地幔岩石学与钻石来源

这里显示的是来自含金刚石的Newlands金伯利岩(南非，Kaapvaal克拉通)的地幔石榴石-尖晶石橄榄岩的SEM-XRF元素图。各种元素的强度表明样品中存在某些矿物质;例如Ca(绿色)-斜辉石;Cr(蓝)-铬铁矿;Al(黄色)为石榴石，K(橙色)为交代。对薄片进行了分析SEM上的MicroXRF．样品大约3厘米x 2厘米，作为一个单一的框架进行分析。每个像素的完整光谱允许进一步的离线处理，如添加元素，从地图中提取光谱，定量地图或自动相位。

微xrf数据具有识别高能x射线线以及样品中的微量元素的优势。微xrf是一种小点分析(约35微米)，尽管比电子束大。其相互作用体积远大于电子束的相互作用体积，且与单元和样品矩阵有关。因此，二维元素图可能在电子束和x射线生成的图之间产生差异。较低的光谱背景可以探测到电子束无法探测到的微量元素。样品制备要求不同;例如，没有电荷效应，因此没有样品涂层。此外，由于信息深度，不需要高质量的优化。此外，一个粗糙的样品只要有一个平面就可以分析。量化可以是无标准的，也可以是基于标准的。