维FastScan
突出了
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尺寸FastScan®原子力显微镜(AFM)系统是专门为快速扫描而设计的，不会损失分辨率，失去力控制，增加复杂性，或额外的操作成本。使用FastScan，您可以立即获得高性能AFM所期望的高分辨率AFM图像。无论您是在测量样本时以>125Hz扫描以找到感兴趣的区域，还是在空气或流体中以每帧图像1秒的时间速率扫描，FastScan都重新定义了AFM体验。
特性
高速和高分辨率的基准
Dimension FastScan是第一个也是唯一的高速尖端扫描系统，在不影响分辨率或系统性能的情况下实现每秒帧的扫描速率-与样本量无关。没有其他高速AFM有FastScan的大样本访问。再加上PeakForce攻®，该系统通过线性控制环实现瞬时力测量，允许点缺陷尺寸和机械分辨率，而不仅仅是在坚硬的平面晶体上。
非凡的生产力
Dimension FastScan的每一个方面-从完全开放的尖端和样本访问到预配置的软件设置-都是专门设计的无故障，操作简单得令人惊讶。快速样本导航，快速参与，快速扫描，低噪音，在数小时内漂移率低于200 pm /分钟，扩展的直观用户界面，以及世界知名的Dimension平台相结合，在AFM中提供全新的体验，同时确保高质量的数据与更快的结果和发布时间。FastScan用户可以立即获得高质量的结果，而不需要通常的专家调整。
更多的应用和更快的新见解
样品测量是探索未知样品以了解异质性、独特特征和力学性能的常用方法。下面是FastScan抽样调查的结果，该调查产生了一组高质量的图像，从20 μm区域的高分辨率地形图像到比原始扫描小10倍的子切片。一次8分钟扫描的结果是多个通道中1600万像素的数据，其中高分辨率数据被清晰地观察到。
由NanoScope 6 AFM控制器提供动力
NanoScope 6控制器具有更高的速度，更低的噪声和更大的AFM模式灵活性，允许用户充分利用我们高性能维度和多模式AFM系统的全部潜力。这一最新一代控制器提供了前所未有的精度，精度和多功能性的纳米级表面测量在每个应用程序。
NanoScope 6独特地使布鲁克AFMs:
- 与竞争系统相比，可以在更多的成像模式下操作，包括需要复杂控制和分析的独特和先进的AFM模式;
- 在每一个应用中收集精确、定量的纳米电和纳米力学性能测量数据;而且
- 优化和自定义扫描参数，以满足最苛刻的研究和行业测量要求。
应用程序
使用AFM模式扩展应用程序
凭借无与伦比的成像模式套件，布鲁克有一个AFM技术的每一个调查。
基于核心成像模式-接触模式和敲击模式- bruker提供AFM模式，允许用户探测样品的电、磁或材料特性。雷竞技网页版Bruker的创新PeakForce敲击技术代表了一种新的核心成像模式，该模式已被纳入多种模式，可并行提供地形、电气和机械性能数据。
维度FastScan数据库
配件
在线研讨会
最近的AFM网络研讨会
奖状
倾听客户的意见
我们已经使用Bruker Fastscan AFM两年多了。根据我们的经验，Fastscan图像速度比其他afm快4到5倍，而且分辨率不降低。此外，带有智能自动扫描参数调整的ScanAsyst模式使我们能够轻松快速扫描许多样品。卓越的Fastscan AFM性能提高了我们集团在DNA纳米技术研究方面的许多出版物的声誉。
