维FastScan
母亲是żniejsze informacje
维FastScan
尺寸快速扫描®原子力显微镜(AFM)系统专门设计用于快速扫描，而不会损失分辨率，失去力控制，增加复杂性或额外的操作成本。使用FastScan，您可以立即获得具有高性能AFM预期高分辨率的AFM图像。无论您是在测量样品以寻找感兴趣的区域时以bb0 - 125Hz扫描，还是在空气或流体中以每图像帧1秒的时间速率扫描，FastScan都重新定义了AFM体验。
Cechy charakterystyczne
高速和高分辨率基准
Dimension FastScan是第一个也是唯一的高速尖端扫描系统，在不影响分辨率或系统性能的情况下实现每秒帧扫描速率-独立于样本量。没有其他高速AFM具有FastScan的大样本访问。再加上PeakForce攻®，该系统通过线性控制回路实现瞬时力测量，允许点缺陷尺寸和机械分辨率，而不仅仅是在坚硬的扁平晶体上。
非凡的生产力
Dimension FastScan的每一个方面——从大开口的尖端和样品访问到预先配置的软件设置——都是专门为无故障而设计的，操作非常简单。快速样本导航，快速参与，快速扫描，低噪音，数小时内漂移率低于200 pm /分钟，扩展的直观用户界面和世界知名的Dimension平台相结合，在AFM中提供全新的体验，同时确保高质量的数据，更快的时间到结果和发布。FastScan用户可以立即获得高质量的结果，而无需通常的专家调整时间。
更多的应用程序和新的见解更快
样本测量是探索未知样本以了解异质性、独特特征和力学性能的常用方法。这是FastScan样本调查的结果，它产生了一组高质量的图像，从20 μm面积的高分辨率地形图像到比原始扫描小10倍的亚切片。一次8分钟扫描的结果是1600万像素的多通道数据，其中高分辨率数据被清晰地观察到。
由NanoScope 6 AFM控制器提供动力
具有更高的速度，更低的噪音，更大的AFM模式灵活性，NanoScope 6控制器允许用户利用我们的高性能尺寸和多模式AFM系统的全部潜力。这个最新一代的控制器提供了前所未有的精度，精度和多功能性的纳米级表面测量在每一个应用。
NanoScope 6独特地使布鲁克原子力显微镜能够:
- 与竞争系统相比，可以在更多的成像模式下操作，包括需要复杂控制和分析的独特和先进的AFM模式;
- 收集准确的，定量的数据，纳米电学和纳米力学性能测量在每一个应用;和
- 优化和定制扫描参数，以满足最苛刻的研究和行业测量要求。
Aplikacje
扩展您的应用程序与AFM模式
凭借一套无与伦比的成像模式，布鲁克为每一项研究都提供了AFM技术。
建立在核心成像模式的骨干-接触模式和敲击模式-布鲁克提供AFM模式，允许用户探测他们的样品的电，磁，或材料属性。雷竞技网页版Bruker创新的PeakForce tap技术代表了一种新的核心成像范例，该技术已纳入多种模式，可同时提供地形、电气和机械性能数据。
尺寸快速扫描数据库
Akcesoria
Webinary
最近的AFM网络研讨会
Referencje
听听我们的客户怎么说
我们已经使用Bruker Fastscan AFM两年多了。根据我们的经验，Fastscan成像速度比其他afm快4到5倍，而不会降低分辨率。此外，scanassist模式具有智能自动扫描参数调整，使我们能够轻松快速扫描许多样品。卓越的Fastscan AFM性能提升了我们团队在DNA纳米技术研究方面的声誉。
