三维光学轮廓仪

contourx - 500

全自动台式3D计量

突出了

我们最先进的台式设计

  • 先进的自动化配置编码XY台,自动倾斜头,自动强度
  • 易于使用的界面,快速,准确的结果
  • 广泛的可定制自动化功能,独特和专业的测量和分析

contourx - 500

ContourX-500光学轮廓仪是世界上最全面的快速、非接触式3D表面测量自动化台式系统。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的z轴分辨率和精度,并在更小的占地面积内提供Bruker白光干涉测量(WLI)落地式模型的所有行业公认优势。轮廓仪可以轻松地为最广泛的复杂应用定制,从精密加工表面和半导体工艺的QA/QC测量到眼科和MEMS设备的研发表征。

提示/倾斜
光学头
在一定角度范围内测量表面特征,同时最小化跟踪误差。
最先进的
用户界面
提供对预编程过滤器和分析的广泛库的直观访问。
集成
空气隔离
在节省空间的情况下提供最佳的计量精度。

特性

特性

专为无与伦比的台式计量设计

Bruker专有的顶部倾斜/倾斜为生产设置和检查提供了无与伦比的用户灵活性。通过将自动尖端/倾斜功能与显微镜头中的光学路径耦合,布鲁克已经将检查点与独立于倾斜的视线耦合在一起。这减少了操作员的干预,提供了最大的重现性。其他硬件功能包括具有更大拼接能力的创新舞台设计和具有1200x1000测量阵列的5MP相机,以降低噪声,更大的视场和更高的横向分辨率。这些功能与自动化登台和目标的结合,使ContourX-500非常适合“按需测量”的研发和工业计量,所有这些都在紧凑的占地面积内。

传统的俯仰侧倾台设计要求操作者调整五个运动轴,以保持检测点在测量的视线上。头部独特的Bruker尖端/倾斜设计保持了检查点上的视线-无论倾斜如何-从而优化了图像采集和最快的数据时间。

对广泛分析的简化访问

基于Vision64的多区域直接萃取微流控装置底部通道分析。

通过数以千计的定制分析和Bruker的简单易用,但功能强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,ContourX-500优化了实验室和工厂车间的生产力。Bruker的新型通用扫描干涉测量(USI)测量模式提供了全自动、自感知的表面纹理,优化了信号处理,同时提供了最准确、最真实的表面形貌分析计算。

应用程序

应用程序

具有特定应用解决方案的表面独立计量

精密工程

保持精密工程零件的表面纹理和几何尺寸在严格的规格限制内。当您监视、跟踪和评估流程并评估GD&T符合性时,我们的测量系统可提供有效的反馈和报告。

MEMS和传感器

执行高通量,高度可重复的蚀刻深度,薄膜厚度,台阶高度和表面粗糙度测量,以及MEMS和光学MEMS的高级临界尺寸测量。从晶圆到最终测试,甚至通过透明包装,光学剖析可以在整个制造过程中表征设备。

骨科、眼科

在整个产品生命周期中获得植入材料和组件的精确、可重复测量。雷竞技网页版我们的WLI光学轮廓仪支持研发,QA和QC分析,应用范围从透镜和注塑模具的表面参数表征到表面光洁度验证和医疗设备的磨损。

摩擦学

测量、分析和控制摩擦、磨损、润滑和腐蚀对材料/部件性能和寿命的影响。确定定量磨损参数,并在最宽范围的闪亮、光滑或粗糙表面上执行快速通过/失败检查。

半导体

利用自动化、非接触式晶圆级计量系统,提高前端和后端制造过程的良率并降低成本。进行cmp后模具平整度检查;凹凸高度、共面度、缺陷识别与分析;并测量部件结构的关键尺寸。

光学

更好地了解缺陷的根本原因,并通过精确和可重复的亚纳米粗糙度测量优化抛光和精加工工艺。我们的非接触式计量系统能够满足越来越严格的规格和ISO标准,适用于从小型非球面和自由曲面光学器件到具有复杂几何形状的光学元件,再到衍射光栅和微透镜的样品。

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