现病史维度
最具生产力的工业研发AFM
Lo más destacado
现病史维度
Dimension HPI系统专为大批量生产环境而设计，可实现许多AFM模式的自动化测量，同时确保最易于使用，每次测量的质量控制、质量保证和故障分析的成本最低。Dimension HPI采用接触、攻丝和PeakForce攻丝模式技术，使用户能够精确控制探针到样品的相互作用，在数千次测量中提供较长的尖端寿命和高精度结果。
创新
PeakForce攻
最大限度地减少探针上的横向力，以保护样品，延长探针寿命，和最一致的测量。
独家
FastScan AFM探针
提供最低的每次测量成本，保证最可靠的数据。
易于使用的
自动化的软件
使每个用户都成为AFM专家，并确保操作人员之间的一致性。
Caracteristicas
测量范围最广
从独家的PeakForce敲击模式到传统的AFM模式，Dimension HPI提供了最大的范围和灵活性，以满足各种样品的特定制造计量需求，而没有通常与AFM研究设置相关的复杂性。
快速纳米电计量
采用导电afm (CAFM)的FastScan技术可以以高扫描速率进行纳米级电流测量，显著提高故障分析测量的效率。使用小型磁力显微镜(MFM)悬臂，FastScan HPI为MFM应用程序提供超过10倍的扫描速度提高，并使用PeakForce tap提供出色的数据质量。PeakForce KPFM™提供最高的空间分辨率和最精确的表面电位测量。PeakForce TUNA™提供最灵敏的电导率测量。
精确的纳米机械映射
布鲁克独特的PeakForce QNM和FastForce Volume™纳米级机械测绘模式可以精确测绘机械性能——模量、刚度、附着力、耗散和变形——同时对样品的形貌和电学性能进行成像。PeakForce QNM可以对聚合物、薄膜和纳米级缺陷进行非破坏性测量，这些缺陷无法通过透射电子或扫描电子显微技术测量。
由NanoScope 6 AFM控制器提供动力
NanoScope 6控制器具有更高的速度，更低的噪声和更大的AFM模式灵活性，允许用户充分利用我们高性能维度和多模式AFM系统的全部潜力。这一最新一代控制器提供了前所未有的精度，精度和多功能性的纳米级表面测量在每个应用程序。
NanoScope 6独特地使布鲁克AFMs:
- 与竞争系统相比，可以在更多的成像模式下操作，包括需要复杂控制和分析的独特和先进的AFM模式;
- 在每一个应用中收集精确、定量的纳米电和纳米力学性能测量数据;和
- 优化和自定义扫描参数，以满足最苛刻的研究和行业测量要求。
