x射线缺陷检查
力量缺陷检测系统使用x射线衍射成像(XRDI)检测晶体的缺陷,如裂缝、滑,混乱,micropipes单晶基片。我们XRDI检测技术操作不使用腐蚀酸。这些系统广泛采用在硅晶圆检测裂缝导致晶片破损,提高产量和品质的其他高价值的基质,如集团和碳化硅。
支持
我们如何帮助?
力量合作伙伴与客户解决实际应用问题。我们开发新一代技术,帮助客户选择合适的系统及配件。这种伙伴关系继续通过培训和扩展服务,很久以后销售的工具。
我们的训练有素的团队的支持工程师,科学家和应用主题专家是完全致力于最大化工作效率与系统服务和升级,以及应用程序的支持和培训。