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植物,土壤和肥料

确定土壤和植物状况,知道添加多少营养物质。

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植物、土壤和肥料分析

一种特定的植物或作物生长得有多好在很大程度上取决于土壤的肥力。为了全面了解情况,需要评估碳、氮和硝酸盐等参数,但也需要评估某些金属。另一方面,必须避免污染物。布鲁克的光谱学解决方案能够在实验室或现场进行快速分析。

XRF是一种快速、无损的元素分析技术,用于整个植物系统(包括种子、土壤、灌溉、肥料、根系和茎部系统)的宏观营养素、微量营养素和重金属元素的分析。Bruker的元素分析仪产品组合包括高通量实验室ED-XRFWD-XRF,傻瓜手持式光谱仪micro-XRF,以及超痕量分析TXRF光谱仪。

土壤分析

布鲁克提供广泛用于土壤分析应用的FT-IR和FT-NIR光谱仪。FT-NIR光谱学为分析土壤中总碳和总氮提供了一种快速且经济有效的工具,这两个参数有助于更好地了解和管理施肥的影响。

红外光谱法越来越多地作为传统土壤测试方法的补充和替代,用于估计许多土壤功能特性和植物特性。

近红外允许测量更大的样本量,并且在样品制备方面要求较低。虽然MIR需要研磨到细小的颗粒,但它通常可以实现更精确的校准,并适用于更多的参数。

可监控的参数示例:

  • 有机和无机C
  • 总碳,总氮
  • 硝酸
  • 钾、铝、钙……
  • pH值

肥料分析

虽然FT-NIR光谱学主要用于有机物的分析,也可用于测定矿物质的浓度,因为它们对吸水带的形状有影响。因此,例如,在粒状NPK肥料中,可以测定总氮、总磷和水溶性钾含量。除了总和参数(如总氮)外,还可以测定单个组分,如铵态氮或硝态氮等。此外,还可以测定添加的矿物质或元素,如钙或镁,这取决于基质和浓度。

对于粒状肥料的生产来说,几个测量点是可取的,以便在原料进入工艺之前以及混合或造粒后的最终产品测试其成分,以确保最佳的产品控制。这些测量点可以使用多通道进行监控过程FT-NIR谱分析。

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