D8发现シリ，ズ

D8发现は結晶相の定性分析・定量分析をはじめ,構造解析,高分解能X線回折,反射率測定,逆空間空間マッピング,すれすれ入射測定(出平面,平面),すれすれ入射小角X線散乱(GISAXS),残留応力解析,集合組織解析,微小部回折など,X線回折・散乱をベースとしたあらゆる材料研究アプリケーションに対応できるように構成された多目的X型線回折プラットフォームです。

DIFFRAC.DAVINCIは,装置構成をリアルタイムモニターし,指定したアプリケーションに対して異なる組み合わせがあれば,ユーザーに適切な構成を案内します。対話式インターフェースを採用したDIFFRAC.SUITEソフトウェアパッケージは,測定プログラムの作成を効率的に促します。xrd分析に明るいユ，ザ，にはすべての自由度を開放し，お好みの測定を実行することができます。強力な解析ソフトウェアは測定ソフトウェアと連動し,ボタンクリックのみで測定と解析を自動化し,解析結果の統計処理やパス——フェイル自動判別を可能にします。

D8ゴニオメーターを採用したD8发现と,高精度图谱ゴニオメーターを採用したD8发现+の2種類の基本プラットフォームをシリーズとしてラインナップしました。

人間工学に基づいた筐体設計により,D8发现は実験室系X線回折装置の限界を超え,分析ニーズに最適化された装置セットアップを可能にします。

D8发现エンクロ，ジャ，は，実験室系x線回折装置の中で最大級の内部空間を提供します。特許取得済みのドア開閉機構により,サンプル交換の際に素早くアクセスできるスライドモードと,筐体全体にアクセスできるスイングモードをすばやく切り替えることができます。

X線回折装置の現在の状態は领导X線ステータスライトとインタラクティブなスクリーンキーでシンプルかつわかりやすく表示されます。筐体内部は調光可能な领导ラトで照らし出されます。装置制御に必要なケーブルだけでなく,外部コントローラー制御用ケーブルなども,X線の漏洩なく装置内に配置できる特殊機構を採用し,多様な分析ニーズに対応します。装置下部ユニットには,温度アタッチメントなどのアクセサリコントローラーを搭載するための19インチラックマウントスペースを確保しています。

究極の安全性と品質を誇るD8发现は欧盟指令に完全に準拠しており,X線安全性,機械安全性,電気安全性,電磁波適合性など,分析用X線装置の世界最高水準の基準を確立しています。

ゴニオメ，タ，はx線回折計の心臓部です。D8发现には、次の2つのオプションがあります。

標準D8ゴニオメーターは,業界唯一の回折角度のアライメント保証を備えたクラス最高の性能を備えています。精密な光学トラックレールには距離検出機能を搭載しており,EIGER2検出器使用時に,角度分解能と記録角度範囲の自由度を高めています。ゴニオメタ中央に高精度バヨネットステージ脱着機構を搭載することで、異なるサンプルステージもゴニオメーター中心に再現性よく搭載できます。

阿特拉斯ゴニオメーターはすべてのD8发现+プラットフォームの中心にあり,材料研究を新たなレベルに導きます。阿特拉斯ゴニオメーターは,入射X線の回転中心精度をもう一段引き上げ,回折角度のアライメント保証をさらに強化しました。TXS-HE X線源やNon-Coplanarアームなど,新たなコンポーネントの選択肢を増やしました。