XRDコンポ,ネント

サンプルステジとサンプルホルダ

X線回折測定において重要な役割を果たすサンプルステージは,サンプルをゴニオメーターの回転中心にセットし,任意の回折空間へのアクセス自由度を高めるだけでなく,新たなサンプルや追加の入射ビーム条件への対応力を有します。

ブルカ,のサンプルステ,ジはすぐれたサンプル操作性を提供します。必要な可動軸とサンプルサイズに応じて,バヨネットマウントステージとベースマウントステージからお選びいただけます。すべてのステージはDIFFRAC.DAVINCIコンセプトに準拠し,コンポーネントとモーター駆動軸は搭載時に自動的に認識され利用できるようになります。

通用运动概念(联电)ステージはXYZ並進,φ回転,Psi傾斜の最大5つの可動軸を有します。サンプルステ,ジがあらゆる方向に移動する場合も,測定対象箇所が回転中心に正確に保持されます。

バヨネットマウント式ユーレリアンクレードルは,雰囲気制御条件を含む残留応力測定,極点図測定,エピタキシャル薄膜解析などのアプリケーションをサポートします。

ステ,ジの機能は,用途の変化に合わせて適応させることができます。ブルカーの幅広いアクセサリーには,XYおよびチルトステージ,キャピラリーマウント,ウェハーチャックなどがあります。

ブルカーのサンプルホルダーラインナップをより強固にするため,無機物または有機物,少量または多量,バルクまたは粉末などに関わらず,あらゆるサンプルを最適な装置構成で測定できることが保証されています。

バヨネットマウントステ,ジ

バヨネットマウントステージは,サンプルステージ全体の迅速かつ正確な交換を可能にし,測定の柔軟性を最大限に高めます。

ブルカーの電動XYZステージには,紧凑联电および紧凑联电+ 80/150がラインナップされています。联电ステージは,大型バルクサンプル測定,サンプルマッピング,コーティング分析などに広く使用されますが,複数の小型サンプルの測定や,雰囲気制御測定用ドーム型温度アタッチメントを搭載することもできます。さらに,Compact UMC Plus 80/180ステ,ジは,無制限のPhi回転が可能です。紧凑联电+ 150には,真空配管および電気配線のフィードスルー機構を搭載します。

バヨネットマウント対応紧凑的摇篮(+)と中心欧拉は摇篮,ドーム型温度アタッチメントを用いた雰囲気制御条件での残留応力,極点図,エピタキシャル薄膜などの測定のアプリケーションに対応しています。また,紧凑的摇篮+には真空配管のフィードスルー機構を有し,小さな薄膜サンプルを確実に搭載することができます。

Compact UMCステ,ジ

Compact UMC Plus 80ステ,ジ

紧凑摇篮ステ,ジ

Compact UMC Plus 150ステ,ジ

Compact Cradle Plusステ,ジ

中心欧拉摇篮ステ,ジ

ベ,スマウントステ,ジ

D8发现シリーズでは,大型サンプルや重量物サンプルの保持のために,ベースマウントステージを用意しています。联电シリーズは,他の追随を許さないマッピング能力と耐荷重を提供し,最大5公斤,最大径300毫米までのサンプルの広域マッピングを可能にします。Umc 350ステ,ジとUMC 1516ステージには、残留応力、極点図、エピタキシャル薄膜などの測定の自由度を高めるために、Psi傾斜軸が搭載されています。

高スループットスクリーニング用ウェルプレート分析では联电150高温超导ステージのように,専用アプリケーション向けに特殊なステージが用意されています。さらに機能性を高めるために,キャピラリースピナー,真空チャック,雰囲気制御アタッチメントなどのアクセサリーを联电ステージ上に搭載することができます。高いモジュール性デザインにより,联电ステージは標準構成では難しいユーザーの要求に合わせて,さらにカスタマイズすることができます。

Umc 150ステ,ジ

Umc 151ステ,ジ

Umc 150 htsステ,ジ

Umc 350ステ,ジ

Umc 150 hts-3ステ,ジ

Umc 1516ステ,ジ

サンプルステ,ジアタッチメント

以下のコンポーネントは,ほとんどのステージ上に搭載でき,簡単で正確なサンプル取り付けと,さらなる自由度を提供します。ギャラリ,は,利用可能なステ,ジアタッチメントを示しています。

サンプルチェンジャ

FLIP-STICK 9サンプルチェンジャーと自动换片唱机90サンプルチェンジャーは,最大で90個のサンプルを取り扱うことができ,バッチ測定を完全無人で実施することができます。DAVINCI.DESIGNのプラグアンドプレイコンセプトに基き,これらのサンプルチェンジャーはかつてない柔軟性を提供します。多種多様なサンプルやサンプルホルダーを,反射法・透過法配置や集中法・平行ビーム法のいずれでも,測定に用いることができます。サンプルマガジントレ。これにより,別の測定を行っている間に,追加のマガジンを事前に準備することができ,測定のスループットを向上させることができます。

サンプルホルダ

X線回折では煩雑な前処理を必要としませんが,サンプルの均一性,量,その他の特性に応じて,適切なサンプルホルダーの利用が重要です。以下にブルカの様々なサンプルに対応した専用デザンホルダをご紹介します。

その他のリソ,ス

サ,ビスとサポ,ト

以下を提供します。

  • 高度なスキルを持つトラブルシューティングの専門家によるヘルプデスクのサポートにより,ハードおよびソフトウェアの問題を特定して解決
  • サビス診断およびアプリケションサポトのためのWebベスのリモト計測器サビス
  • マジされたリアリティサポト—あなたの側の仮想エンジニア(ビデオ
  • 計画メンテナンス(要件に応じて)
  • お客様の現場修理·保守サ,ビス
  • スペアパ,の可用性は,通常,夜間または世界中の数営業日以内に利用可能
  • 設置資格,運用資格/性能検証のためのコンプラ
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