3d x선현미경(xrm)

SKYSCAN 1272 CMOS版

고해상도3d x선현미경

샘플의선명한3d뷰

하이라이트

하이라이트

0.6 m²
足迹
모든실험실에적합한데스크톱시스템
16포지션
외부샘플체저
무고처리량분석
互补金属氧化物半导体
검출기기술
고대비이미지

天幕扫描1272 -고해상도XRM

SKYSCAN 1272 CMOS版은신뢰할수있는데SKYSCAN 1272스크탑X선현미경플랫폼을기반으로하며최X선신기술을통합하여XRM을다음단계로끌어올립니다。


최첨단1600만화소CMOS X선검출기는뛰어난해상도의고대비이미지를제공합니다。확장된검출기시야와x선에대한향상된감도는스캔시간을최대2배까지단축합니다。

1272年SKYSCAN CMOS는Genius-Mode로매개변수의자동선택을제공합니다。한번의클릭으로확,대에너지,필터,노출시간및배경보정을모두자동으로최적화할수있습니다。


무marketing고처리량스캐닝을위해16개위치샘플교환기를선택적으로사용할수있습니다。
天空扫描1272 cmos는3d。套件로보완됩니다。이포괄적인소프트웨어제품군은GPU가속재구성,2 d / 3 d형태분석,표면및볼륨렌더링시각화를다룹니다。

특징

주기능

天空扫描1272 cmos기능

天才模式

1272年SKYSCAN CMOS는Genius-Mode로매개변수의자동선택을제공합니다。한번의클릭으로확,대에너지,필터,노출시간및배경보정을자동으로최적화할수있습니다。

또한,샘플과대형CMOS카메라모두소스에최대한가깝게배치될수있으며,이는측정된강도를실질적으로증가시킵니다。1272年SKYSCAN CMOS가고정카메라위치를사용하는기존시스템에비해최대5배빠르게스캔되는이유입니다。

天空扫描1272 cmos기능

样改变

1272年SKYSCAN CMOS에는QC및일상적인분석을위한처리량을늘리기위해외부16포지션샘플체인저를선택적으로장착할수있습니다。

샘플체rachel저는최대직경25mm까지다양한샘플크기를수용합니다。

진행중스캔프로세스를중단하지않고언제든지샘플을쉽게교체할수있습니다。새로운샘플이자동으로감지되고,领导는모든스캔의상태(준비,스캔,완료)를나타냅니다。

天空扫描1272 cmos기능

现场阶段

브루커재료테스트스테이지는최대4400 N및인장실험440 N을까지수행하도록설계되었습니다。모든스테이지는케이블연결없이시스템의회전스테이지를통해자동으로통신됩니다。제공된소프트웨어를사용하여예약된스캔실험을설정할수있습니다。

브루커의가열및냉각스테이지는최대+ 80ºC또는주변온도보다30ºC의낮은온도에도달할수있습니다。다른스테이지와마찬가지로추가연결이필요하지않으며스테이지를자동으로인식할수있습니다。가열및냉각스테이지를사용하여샘플은non-ambient조건에서검사하여샘플의미세구조에대한온도의영향을평가할수있습니다。

Skyscan 1272 cmos
성능저하없이외부냉각수또는특수전력없음:오늘날의생태학적및경제적요구에맞게설계되었습니다。

Skyscan 1272 cmos
통합진동차단과같은스마트솔루션과설계는완벽한전체를형성합니다。

응용

주애플리케이션

Skyscan 1272 cmos

섬유및복합재료

一个FFP2掩模的体积渲染,纤维是由局部方向进行颜色编码的

재료를복합재료로결합하면그결과성분이강도를크게줄이면서강도를크게감소시킬수있다。추가최적화는하위구성소의방향이최적화되도록보장하는것입니다。사용되는고전적인구성요소중하나는콘크리트의강철철근,전자부품의유리섬유,항공재료의탄소나노튜브에이르는섬유입니다。XRM은단면화없이섬유와복합재를검사할수있으므로시료의상태가시료준비의영향을받지않도록합니다。

  • 임베디드객체의방향
  • 층두께,섬유크기및분리의정량화
  • 액세서리스테이지를통한原位온도및물리적특성테스트
Skyscan 1272 cmos

제약

픽셀크기0.45 μm의장용코팅과립형태의경구의약품。코팅은3층으로구성되며,외부층은두께에따라색으로구분됩니다。

새로운제약의개발은시간이많이걸리고비용이많이들며,노력이필합니다。XRM은제품제형단계에서제품의내부구조에대한즉각적인피드백을제공하여출시시간을단축할수있습니다。

테이블압축밀도결정

코팅두께균일성측정

API배포평가

압축된테이블에서스트레스로한미세균열감지

기계적특성테스트를위해原位압축적용

Skyscan 1272 cmos

泡沫

재구성된데이터의다중볼륨이미지와폼셀의직경과개방셀니켈폼스트럿의중공특성을모두보여주는색상코드구조분리。1.0µm픽셀크기。

泡沫은산업응용프로그램에널리사용됩니다。단열재또는방음재,보호부품의충격흡수재,필터로사용되는지여부는폼의재질과구조적특성에따라다릅니다。
Xrm은비파괴방식으로폼의3d내부구조를시각화할수있습니다。

로컬스트럿의구조적두께결정

기공네트워크를시각화하기위한구조분리결정

압축및장단계로기계적테스트적용

개방및폐쇄된다공성의수준을정량화

사양

SKYSCAN 1272 CMOS规格

功能

规范

好处

x射线源

40 - 100 kV

10 W

在4 W时,光斑尺寸< 5µm

免维护的密封x射线源

快速扫描QC,或4D XRM

x射线探测器

16mp sCMOS探测器(4096 x 4096像素)

高精度探测器,实现最高分辨率

对象的大小

75毫米直径

80毫米高度

能够扫描从小到中,大样本量

样改变

(可选)

16个样品直径可达25毫米

外部访问

无人值守高吞吐量

大样本和小样本的任意组合

在不中断实际扫描的情况下,随时添加/删除样本

宽1160毫米×深520毫米×高330毫米

重量150公斤

节省空间的桌面系统,适合每个实验室

电力供应

100-240V AC, 50-60Hz, 3A max。

最低的安装要求,一个标准电源就足够了

소프트웨어

포지션,스캔,재구성및분석

力量XRM솔루션에는데이터를수집하고분석하는데필요한모든소프트웨어가포함됩니다。사용자유도매개변수최적화가있는직관적인그래픽사용자인터페이스는전문가및초보사용자모두를지원합니다。최신gpu기반알고리즘을사용하여재구성시간이크게줄어듭니다。CTVOX, CTAN및CTVOL이결합하여모델의질적및정량적분석을위한강력한소프트웨어제품군을형성합니다。

측정소프트웨어:
Skyscan 1272 -계측기제어,측정계획및수집

재건소프트웨어:
Nrecon - 2d프로젝션이미지를3d볼륨으로변환

분석소프트웨어:
DATAVIEWER- 3d볼륨의슬라이스별검사및2d / 3d이미지등록
CTVOX-볼륨렌더링에의한사실적시각화
CTAN- 2d / 3d이미지분석및처리
CTVOL- cad또는3d프린팅을위해내보낼면모델의시각화

웨비나

지원

서비스및지원

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