缺陷和污染

Cdte监控

X射线分片成像(XRDI,又称X射线地形学)用图象晶体缺陷非完全子串或近完全子串。使用QC-RT虚拟割片,有可能用模式图像样本可视化抓取、变换和其他缺陷,但也有可能基底内图像定向对比

使用QC-RT虚拟切片可用模式图像样本可视化抓取、变换和其他缺陷,但也可图像取向基底反差

图片创建自同数据

图像从同一种数据生成,并允许用不同处理过程图像化长短差特征