QC-RT
识别缺陷高价值的基质
x射线衍射成像(XRDI)检查系统
突出了
QC-RT
的力量QC-RT缺陷计量系统使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术在反射模式识别高价值基质中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。雷竞技网页版由于x射线衍射的本质,与光学技术不同,晶片不需要蚀刻或抛光能够看到的缺陷。
特性
倾斜和缺陷基于CdTe基质
CdTe CdHgTe广泛用于红外探测,特别是夜视,薄膜太阳能电池。对于这些应用程序,生长晶体的质量就变得很重要。QC-RT用于质量控制的晶体,和这些基质的处理的进一步发展。
支持
支持
我们如何帮助?
力量合作伙伴与客户解决实际应用问题。我们开发新一代技术,帮助客户选择合适的系统及配件。这种伙伴关系继续通过培训和扩展服务,很久以后销售的工具。
我们的训练有素的团队的支持工程师,科学家和应用主题专家是完全致力于最大化工作效率与系统服务和升级,以及应用程序的支持和培训。