化合物半导体的x射线计量

QCVELOX-E

脱毛层监测的HRXRD最佳性能

领先的肾上腺素制造商的首选系统

常规分析半导体衬底、薄膜结构和加工器件晶圆的基本工具。

Основныемоменты

QCVELOX-E

布鲁克QCVelox-E是领先的epi制造商监控其生产线的首选系统。它基于行业标准QC3,在吞吐量、可靠性和易用性方面进行了重大升级。通过使用最佳的x射线源和光学技术,它将高通量与出色的可重复性结合在一起,从而能够在生产环境中快速反馈层质量和结构。

最佳x射线
光源与光学技术
真正的自动化操作
用于半导体衬底、薄膜结构和加工器件晶圆的常规分析

Особенности

特性

自动操作

QCVelox-E提供真正的自动化操作,具有直接的水平样品安装,全自动校准,测量,包括无边缘排除的完整映射和自动数据分析。一个集成的条形码阅读器适合帮助生产环境中的生产力。
可选的机器人处理程序可用于自动加载和测量盒式,以及sec - gem和其他工厂主机系统的选项。

QCVelox-E是对所有化合物半导体材料的半导体衬底、涂层结构和加工器件晶圆进行常规分析的必备工具。雷竞技网页版

Поддержка

支持

我们能帮什么忙?

布鲁克与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发下一代技术,帮助客户选择合适的系统和配件。这种伙伴关系通过培训和延长的服务,在工具销售后很长一段时间内继续下去。

我们训练有素的支持工程师,应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训最大限度地提高您的生产力。

Специалист

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