三维光学表面光度仪

contourx - 1000

Self-calibrating,完全自动化解决方案的研究和生产

亮点

contourx - 1000 3 d光学表面光度仪

contourx - 1000落地式白光干涉仪(WLI)获得质量3 d区域表面纹理和粗糙度测量容易和快速。结合30多年的创新和我们最新的专有软件和技术,这个计量系统提供快速time-to-results和可重复性,力量的光学分析器闻名,增加吞吐量和更大的运营商。

使用全自动化功能,一个简单的用户体验,和流线型的设置和测量分析食谱,contourx - 1000提供最准确和精确的计量在几乎任何表面,任何运营商,即使在多用户大批量生产设施。

专有的
硬件和系统特性
提供最准确的表面纹理和粗糙度测量在任何表面上。
Self-Calibrating
激光
确保gage-capable计量开发或生产应用程序。
操作简便
软件
自动测量和分析毋庸置疑计量不管运营商经验水平。

特点

下一代,行业的三维表面测量解决方案

配备Bruker-exclusive干涉测量技术,能够完整的自动化,contourx - 1000扩展了我们的无与伦比的测量和成像功能ContourX轮廓测量系统包括几乎所有的开发和生产应用程序。

只有contourx - 1000:

  • 为快速、通用的生产车间计量提供了独家提示/倾斜头部,dual-light来源,和先进的自动化;
  • 确保极端的准确性和可靠性self-calibrating激光和集成隔振;和
  • 集成了我们最友好的测量和分析软件与引导、简化程序和食谱。
特性

几乎任何表面上最准确和精确计量,任何操作符

contourx - 1000激光聚焦世界展示的方法相比西方光子学

获得质量3 d区域表面纹理和粗糙度测量现在比以往任何时候都更容易、更快捷的contourx - 1000。

激光聚焦世界参观我们在学报光子学西2023讨论contourx - 1000的新一代设计。观看视频焦点或联系我们了解更多关于这个self-calibrated,完全自动化解决方案的研究和生产。

最新的光学分析硬件的进步

contourx - 1000配备了各种各样的独特和创新的硬件。下一代设计允许快速优化和最大再现性对于几乎所有的开发和生产应用程序,即使在高通量和嘈杂的环境。

主要特点包括:

  • 专利提示/倾斜的头;
  • 专有的双led光源;
  • 自动炮塔和阶段;
  • 晶片的选择放弃;
  • 专有的内部激光参考;和
  • 集成隔振。

▲专利提示/倾斜头(轮廓家庭小册子)

强大的自动测量和分析

contourx - 1000的综合,操作简便的特点和先进的生产质量接口允许快速集合,gage-capable测量用最小的用户干预。这消除了复杂性、扩展time-to-result和运营商固有手工设置不一致,收购,和分析。

主要特点包括:

  • 自动测量和分析配方;
  • 新一键先进的表面找到自动对焦和auto-illumination;
  • 自动确定最佳测量参数的自适应USI测量模式;
  • 引导VisionXpress接口;
  • 自动模式对齐;
  • 自动保存,Auto-intensity auto-stitching等等。

▲自动化与晶片地图图形用户界面(GUI)

应用

应用程序

Industry-Diven解决方案

contourx - 1000的独特结合先进的硬件和软件的集成使高度精确,gage-capable,定量3 d表面特征的各种各样的表面在广泛应用和产业——包括临界尺寸计量和许多更多。

高纵横比MEMS器件结构
技术聚合物薄膜

软件

软件

力量的Vision64仪器控制和分析

contourx - 1000是由Vision64®软件,该行业的大多数功能和用户友好的图形用户界面。这个功能齐全的软件包括:

先进的表面找到

先进的发现表面特性使任何用户获得质量结果不管运营商经验水平,即使在多用户环境。

它不仅使自动对焦,而且调整照明关键参数如LED环形光的强度。这允许毋庸置疑计量在不同材料表面通过改进用户体验,time-to-result极端操作符,和更快。

VisionXpress

之间的简单易用的VisionXpress™接口的标准测试库对于多用户环境,屡获殊荣的全功能的Vision64高级设置界面和自动分析,和最终的先进的生产接口自动化以最小的用户干预,您可以选择最合适的解决方案你独特的计量需求,没有妥协。这种独特的功能使毋庸置疑计量在任何表面,增加吞吐量。

环球扫描干涉法

自适应表面情报USI模式自动调整算法参数优化结果在不同的表面纹理在同一视野,甚至在表面之下,不同强度和高度。这种能力自动表面的类型和提供最准确的面积计量是最简单、最可靠的测量方法几乎任何表面,透明不透明,垂直距离120µm。

网络研讨会

更多信息

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ContourX:四十年的Wyko®和力量技术进步

ContourX系统利用先进计量算法优化白光干涉法(WLI)的功能。结果是最高程度的垂直分辨率甚至低倍镜下。这使研究人员和工程师迅速获得相当精确,统计相关数据结果从大型测量领域。

ContourX轮廓曲线仪实现行业领先的能力和最大客户满意度:

  • 大多数优化" WLI技术表面计量;
  • 无与伦比的垂直分辨率在一个大的视野;和
  • 最快time-to-results不妥协精密度和准确度;和
  • 一流的可靠性和可重复性。

支持

服务和支持

我们如何帮助?

力量合作伙伴与客户解决实际应用问题。我们开发新一代技术,帮助客户选择合适的系统及配件。这种伙伴关系继续通过培训和扩展服务,很久以后销售的工具。

我们的训练有素的团队的支持工程师,科学家和应用主题专家是完全致力于最大化工作效率与系统服务和升级,以及应用程序的支持和培训。

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