地球科学学术研究

岩石学,地球化学和岩石特征

了解岩石形成和转化的过程是地质科学的基础。Bruker的分析工具使矿物、纹理和空间分辨地球化学的研究从手样本到亚颗粒尺度。

岩石学特征

岩石学特征

布鲁克分析工具允许在厘米到亚微米尺度上表征地质材料。雷竞技网页版从独立仪器到扫描电子显微镜探测器,对样品中矿物学、结构和地球化学分布的基本了解从未如此强大。

矿物和结构表征

矿物和结构表征

石榴石云母片岩的AMICS矿物图

矿物在岩石中的空间分布的准确识别和表征为理解岩石形成的基本过程提供了基础。根据任务的不同,可能需要在手工样品、单颗粒和亚颗粒尺度上进行表征,并需要将矿物化学与纹理关系联系起来。Bruker的产品跨越了这些尺度和数据需求,例如:

  • M4龙卷风而且M4龙卷风+允许对最低限度制备的样品进行快速测绘,从而确定固体和颗粒样品中的矿物种类和结构分布,并将矿物化学测量到PPM水平

  • QUANTAX用于扫描电子显微镜的探测器,包括EDS改进算法而且EBSD,提供亚微米级固体样品的全面结构和成分数据

  • 氨的用于扫描电子显微镜和微xrf的自动矿物学解决方案,推动矿物的快速识别和表征,广泛应用于地球科学和地质工程

  • D2移相器D8发现而且D8提前x射线衍射解决方案涵盖所有应用和需求,从紧凑的台式仪器到高分辨率单晶表征。

  • SKYSCAN 1275而且SKYSCAN 1273x射线显微镜能够可视化和量化固体和颗粒样品中的三维矿物分布

空间分辨地球化学

微xrf手样尺度空间分辨地球化学研究

c. 3.0 Ga叠层石M4 TORNADOµXRF图谱视场直径为60厘米

岩石中主要、次要和微量元素的可视化有助于我们理解许多地质过程。通常局限于薄片或以下的尺度,在较大样本中快速描述地球化学分区为进一步研究提供了额外的背景,为其他分析方法提供了更可靠的子采样决策,并有可能减少用更昂贵的技术分析的样本总数。允许地球化学可视化的Bruker产品包括:

  • M4龙卷风micro-XRF提供大型样品的地球化学测绘和检测,可精确表征任何固体样品的地球化学分布,并通过整合地图数据对体地球化学进行量化。

  • M4龙卷风+是一种用于增强轻元素检测的微xrf优化,具有大面积轻元素SDD探测器和在真空和He气氛下分析的能力,允许元素检测低至C。

  • XTrace-QUANTAXmicro-XRF,它升级了扫描电镜,允许在同一仪器上进行微量元素分析。使用XTrace与Rapid Stage(一种基于压电的模块化系统,可直接安装在标准SEM平台上)相结合时,可以实现高速映射。

Bulk-rock地球化学

ED-XRF和WD-XRF的块岩地球化学

全岩地球化学是地质过程研究的重要组成部分,准确的主、次和微量元素化学是必须的。布鲁克提供全方位的能量色散和波色散XRF解决方案,适合各种应用和分析需求。

  • 示踪剂手持xrf和CTX便携式台式ED-XRF仪器提供便携和紧凑的解决方案,预算合理,同时不影响性能

  • S2彪马高容量台式ED-XRF设备可以从C到Am进行分析,样品更换系统可容纳多达20个样品

  • S6捷豹紧凑的WD-XRF以紧凑的格式提供高性能的块地球化学性能,而S8老虎连续WD-XRF可在一次运行中进行主要元素和微量元素分析。

Petrochronology

Petrochronology

BSE衬底上的附属矿物的AMICS图像

我们对地质过程理解的进步已经证明了了解岩石中可确定年代的矿物的结构背景的必要性,以及从中获得的益处。通常用于地质年代学的矿物是附属品-粒度细且丰度低-导致花费大量精力和资源在薄片或矿物分离中定位它们。基于Micro-XRF和sem的自动化矿物学解决方案可以加快这一过程,正确识别矿物,并将其置于其纹理矿物学背景中。

  • M4龙卷风micro-XRF可以通过地球化学代理或直接应用Bruker的AMICS自动化矿物学解决方案,对大型样品进行地球化学测绘,提供矿物分布

  • 氨的扫描电子显微镜提供了薄片和抛光颗粒安装的自动矿物学测绘,重点检测关键矿物和成分定量,以进行可靠的分类

振动光谱

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MicroRaman光谱学

矿物结构和组成的点分析和映射,区分多态或化学性质相似但结构不同的矿物,光谱参考库允许快速和常规表征,OPUS™软件优化光谱匹配。

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