D8 DISCOVER Plus
超出预期的XRD
突出了
D8 DISCOVER Plus是目前市场上功能最强大、用途最广的x射线衍射仪。
核心是高精度ATLAS测角仪，拥有高效涡轮x射线源(TXS-HE)和市场领先的非共面臂。
它是为在环境和非环境条件下对从粉末、非晶态和多晶材料到外延多层薄膜的各种材料进行结构表征而设计的。雷竞技网页版
应用程序:
- 相鉴定与定量，结构确定与细化，微应变与晶粒尺寸分析，
- x射线反射，掠入射衍射(GID)，面内衍射，高分辨率XRD, GISAXS, gi -应力分析，晶体取向分析
- 残余应力分析，纹理和极点图，微x射线衍射，广角x射线散射(WAXS)，
- 全散射分析:布拉格衍射，对分布函数(PDF)，小角度x射线散射(SAXS)
市场的画廊
特性
关键特性
Non-Coplanar手臂
D8 DISCOVER Plus可以配备非共面臂，以无与伦比的性能进行面内衍射测量。
- 可达160°的2θ范围，在d-间距测定中具有无与伦比的精度。
- 无与伦比的精度与直接角编码器。
- 专用的光束路径组件增加了测量强度，甚至从超薄多晶薄膜获得信号。
- 无缝集成在DIFFRAC。SUITE软件和在DIFFRAC。达芬奇for maximized efficiency.
阿特拉斯™测角仪
在x射线衍射中，精确样品分析的基础是测角仪和安装组件的精确方向，特别是在测量时。ATLAS测角仪在设计上完全满足了这些要求，并为角度和空间精度设定了基准:
- 坚固和免维护测角仪
- 高精度步进电机，高分辨率光学编码器
- 安装组件的精确和软件监控接口
配备ATLAS测角仪的D8 DISCOVER Plus具有Bruker AXS通用校准保证:测量和认证峰值位置2Theta的角度偏差∆2Theta≤0.007°。这是通过每个单独的仪器测量NIST认证标准SRM1976来验证的。
x射线源
无论分析x射线工具的关键衡量标准是数据质量(定义为信号对噪声或信号对背景)，还是样本吞吐量，一个不变的事实是，信号越多总是一种优势。
高效涡轮x射线源(TXS-HE)旨在增强信号，同时最大限度地减少与旋转阳极技术相关的维护。
- 高达工业密封管强度的5倍
- 线聚焦设置与无与伦比的焦点光斑亮度6千瓦/毫米2
- 理想耦合光学最大强度
- 减少光束路径长度以减少空气散射
阿特拉斯™测角仪
Compact UMC Plus 150
探路者+光学
Eiger2 r 500k
MONTEL Plus专用光学
应用程序
超越高级级衍射
薄膜分析
共面衍射
在共面实验中，源和探测器增加它们相对于样品表面的角度，导致探测方向进入样品表面。
- 掠入射衍射(GID)用于晶体相的表面敏感识别，并确定其结构性质，包括晶体大小和应变。
- x射线反射仪(XRR)用于多层样品的厚度，材料密度和界面结构的提取-从简单的衬底到高度复杂的超晶格结构。
- 掠入射小角度x射线散射
Non-Coplanar衍射
在非共面实验中，源和探测器相对于样品表面的角度是固定的，探测器沿平行于样品表面的方向移动，从而形成沿样品表面的探测方向。
- 平面掠入射衍射(IPGID)将穿透深度降低到nm，允许表面隔离，并提高对具有原子厚度的层的灵敏度。
- 多晶IPGID允许确定平面内晶体大小
- 外延IPGID允许直接确定平面内晶格参数和面内取向。
雷竞技网页版材料研究
ATLAS测角仪提高了分析的角度和真实空间定位精度，允许从样品的微缩区域进行大规模测量。将对称散度IµS与MONTEL相结合，实现了一种新型衍射仪+以及多模EIGER2 R系列探测器，使得光束质量和探测能力与在光束线处发现的相似。
- 掠入射衍射(GID)用于晶体相的表面敏感识别和晶体大小和应变等结构性质的测定。
- x射线反射仪(XRR)用于多层样品的厚度，材料密度和界面结构的提取-从简单的衬底到高度复杂的超晶格结构。
- 用于外延生长样品结构分析的高分辨率x射线衍射(HRXRD):层厚，应变，松弛，镶嵌性，混合晶体的成分分析。
- 应力和纹理(优选取向)分析
- 广角x射线散射
粉末衍射
粉末衍射(XRPD)在低取向度样品上有着广泛的应用。D8 DISCOVER Plus通过ATLAS测角仪将XRPD的精度提升到一个新的水平。通过提高精度，超越行业领先的D8测角仪，对D8 DISCOVER Plus的XRPD分析使研究人员能够发现以前没有观察到的微小结构细节。D8 DISCOVER Plus配备TXS-HE后，XRPD数据采集速度比传统管式系统快5倍以上。
结合强大的DIFFRAC。套件软件the D8 DISCOVER Plus enables the simple execution of PXRD application like:
- 识别阶段
- 相位量化
- 结构解决方案
- 配对分布函数分析(PDF)
- 小角度x射线散射
应用画廊
带2D检测器的x射线衍射
平面衍射
倒数空间映射
规范
D8发现加规格
| 规范 | 好处 | |
| 捻管 | 轻松切换点和线焦点 可用阳极:Cr, Cu, Mo, Ag Max。电源和灯丝:根据负极材料，最高可达3kw (0,4 x 16mm²) 专利:EP 1 923 900 B1 |
快速改变波长，完美匹配不同的应用 线和点对焦之间的快速切换，应用范围更广，在更短的时间内获得更好的结果 |
| Iµs微聚焦源 | 电源负载:最高50w，单相电源 MONTEL和MONTEL Plus光学组合平行和聚焦镜。 光束尺寸可达180 x 180 μ m²。 最大综合通量8 x 10⁸cps在镜像出口。 光束散度下降到0.5 mrad |
毫米大小的光束具有高亮度和超低背景 绿色设计，低功耗，无水消耗，延长组件寿命 优化光束形状和发散度以获得最佳效果 |
| x射线源 | 紧凑和轻的设计，垂直ATLAS测角仪 线聚焦，0.3x3 mm² 焦亮度6kw /mm² 负极材料:C雷竞技网页版u, Co, Cr, Mo Max。电压50千伏，最大。功率取决于阳极材料:Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW 预对准钨丝 |
高通量x射线源，允许水平样品安装。 与标准陶瓷x射线源相比，强度高达5倍。 非常适合线和点聚焦应用 预对齐灯丝允许快速灯丝交换，最小的重新对齐要求。 |
| 三个光学 | 软件按键切换: 电动分流缝(Bragg-Brentano) 高强度ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利:US10429326、US6665372、US7983389 |
全自动，电动切换多达6种不同的光束几何，无需任何手动用户干预 完全适用于所有样品类型，包括粉末，块状材料，纤维，薄片和薄膜(非晶，多晶和外延)雷竞技网页版 |
| 高分辨率单色仪 | 对称和非对称几何中的Ge(220)和Ge(004)反射 2-bounce和4-bounce (Bartels型)单色仪 通过SNAP免对准安装。锁定技术 |
广泛的选择最佳分辨率和强度平衡，以获得最佳的可能结果。 快速交换单色剂以优化不同样品 |
| 阿特拉斯™测角仪 | 垂直测角仪与强制力学设计主机TXS-HE x射线源 行业领先的角度精度:±0.007°2θ保证在NIST SRM 1976确定的整个角度范围内 D8系列组件无缝集成，包括光学、定位摄像机、样品台、非环境和探测器技术 |
无与伦比的精度和精度表现为布鲁克独特的对齐保证 绝对免维护的驱动机构/齿轮终身润滑 支持各种应用程序，以生成最高精度的数据 |
| Non-Coplanar手臂 | 用于研究超薄层和面内样品性质的第三测角轴: 最小步长:0.001° 最大2θ范围(取决于配置):160° 自动探测器距离检测 |
无与伦比的精度与直接角编码器 无缝集成在DIFFRAC。套件软件 高达160°2θ范围，最精确的非共面结构测定 EIGER2探测器实时校准 |
| 紧凑UMC级 | Compact UMC Plus 80: XRPD的快速旋转器 Max。(x,y)平移:±40毫米 Max。样品高度:57毫米 紧凑型UMC Plus 150: Max。(x,y)平移:+/- 75毫米 Max。样品高度:57毫米 用于晶圆卡盘和倾斜工作台的真空和电气引线 |
薄膜研究和粉末衍射模式之间的无缝切换 5位样品换样器，试样直径51毫米 9位样品换样器用于32毫米样品直径 2-4”晶圆的映射 6-8”晶圆的映射 反射模式96孔板能力 允许无限的Phi旋转连接倾斜阶段和真空，而不需要照顾电缆或真空管道。 |
| 中心欧拉摇篮(CEC) | 五自由度样本阶段: X,y为样品平移+/-40毫米 z-Drive高度对齐 Phi驱动具有360°旋转自由。 Psi驱动和角度范围从-11°到98° Max。重量负载:1kg 可提供各种舞台附件。 |
应力和纹理测量侧倾模式更准确的结果。 (x,y)中的自动映射功能。 电动倾斜台，用于精确的表面校准。 粉末或毛细管旋流器允许粉末衍射。 卡口样品台架快速和可重复的交换与其他阶段。 |
| 探路者+光学 | 软件按键切换: 机动狭缝 双跳锗分析仪 自动吸收器集成 |
全自动，电动切换两种不同的光学系统，无需任何手动用户干预。 保持LYNXEYE探测器的全视场。 减震器保证了测量数据的线性 |
| LYNXEYE XE-T | 能量分辨率:< 380 eV @ 8 KeV 检测方式:0D、1D、2D 波长:Cr, Co, Cu, Mo和Ag 专利:EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
不需要Kß滤波器和二级单色器 100%过滤铁荧光与铜辐射 比传统探测系统快450倍 Bragg2D:用发散的主光束收集2D数据 独特的检测器保证:交货时无缺陷通道 |
| EIGER2 | Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的最新一代多模(0D/1D/2D)探测器。 | 无缝集成0D, 1D和2D检测的步进，连续和高级扫描模式 符合人体工程学，无对准探测器旋转优化γ或2Θ角覆盖 全景，无工具衍射光束光学使用完整的探测器视野 连续可变探测器定位，以平衡角度覆盖和分辨率 |
| Non-ambient | 温度范围:从~ 12k到~ 2500k 压力:10 ^ ^ mbar至100巴 湿度:5% RH ~ 95% RH |
环境和非环境条件下的调查 使用DIFFRAC轻松交换stage。达芬奇 |
配件
XRD组件
布鲁克XRD溶液由高性能组件组成，以满足分析要求。模块化设计是配置最佳仪器仪表的关键。
所有类别的组件都是Bruker关键竞争力的一部分，由Bruker AXS开发和制造，或与第三方供应商密切合作。
布鲁克x射线衍射组件可用于升级已安装的x射线系统，以提高其性能。
