开关光谱压电响应力显微镜(SS-PFM)

开关光谱学压电响应力显微镜(SS-PFM)模式可以对铁电材料的性质进行高度精确的纳米级表征，雷竞技网页版扩展标准压响应力显微镜(PFM)，大大提高了测量的灵敏度和准确性．这种模式:

• 阐明了静电伪影可以影响传统PFM模式测量的信号，同时实现相对较高的灵敏度。
• 提供铁电关键参数的高光谱图，揭示样品的XY异质性信息及其与其他性质的相关性，以其他无法达到的详细程度。
• 可以量化铁电滞回线的关键参数，并在仪器、实验室和探针之间比较材料性能。

单独使用或与其他AFM操作模式结合使用，SS-PFM为材料微观结构/极化开关关系提供了新的见解。

消除工件

标准PFM允许以纳米级分辨率测量铁电行为，但测量信号可能受到悬臂上的静电力以及铁电响应的影响。这可能会导致滞后回线定量误差，甚至可能将有色金属材料误认为铁电材料。雷竞技网页版在使用亚共振PFM时，将光束反射激光定位于杠杆的静电盲点(ESBS)，可以显著降低静电伪影。Killgore,纳米尺度的进步， 4,8,2022）.

SS-PFM模式提供:

• 场外和场内循环，用SS-PFM脚本光谱学分离读写测量。
• 通过获取不同读取电压和不同写入电压下的数据来检查静电伪影(Balke,纳米技术， 27, 42, 2016）.
• 兼容谐振PFM以改善响应或与ESBS激光的次谐振PFM以进行更多定量测量(Killgore,纳米尺度的进步， 4,8,2022）.
• 明确的相位和正确的迟滞回线方向(以及电致伸缩系数的表征符号)与DCUBE-CR-PFM（Neumayer,应用物理杂志， 128, 17, 2020）.

绘制铁电参数

通过收集和分析SS-PFM光谱阵列，可以生成关键压电参数的图，以纳米级分辨率展示在XY平面上铁电性质的变化。

SS-PFM交付:

• 从磁滞回线高度敏感和可重复的关键铁电参数点测量。
• 通过更简单的成像模式获取的定量信息——通过脚本数据的高光谱分析。

• 铁电材料属性图，可以与其他图(压电图、化学图等)绘制的属性相关联。

避免接触模式可重复的结果

标准PFM在接触模式下工作，这不适用于在扫描过程中AFM尖端在样品表面拖曳容易损坏或位移的样品。较软的探针可以部分缓解这个问题，但在PFM测量中更容易产生静电伪影。

力量的独特的DCUBE-PFM模式， SS-PFM避免了尖端在表面上的拖拽。这消除了困扰传统接触方式的有害横向力。当与PeakForce攻和MIROView进行预扫描和导航，可完全避免接触模式。

SS-PFM模式支持:

• 低冲击扫描精细样品，如聚合物、纤维和纳米颗粒。
• 当使用硬样品时，增强了尖端寿命。
• 更一致的PFM图像，而不影响信号测量精度。

创新与先进的软件和分析

布鲁克最先进的，易于访问的软件和分析工具提供了研究人员所需要的灵活性。

• 我们易于使用的脚本生成器可以从七个关键参数创建开关波形脚本。高级用户还可以用XML创建独特的脚本。
• 开源基于python的分析代码使研究人员能够准确地了解分析是如何工作的，并开发创新的方法来分析SS-PFM数据。
• 对于开发自己的电子产品的研究人员来说，信号访问模块(SAM 6)允许硬件访问原始信号，也可以为具有较大强制偏差的样本提供高电压。

与新型NanoScope 6控制器无缝集成

pfm型实验对背景和串扰影响特别敏感。与新型NanoScope 6控制器的集成减少了这些影响，通过优化的锁定放大器和信号路由提供最高性能的背景和串扰。

这有利于许多AFM操作模式，但它为pfm类型模式(如SS-PFM)提供了独特的优势，包括:

• 由于改善了信噪比，分析更简单。
• 清洁、准确的测量;即使是高频的低电平信号。