开关光谱压响应力显微镜(SS-PFM)

开关光谱压电响应力显微镜(SS-PFM)模式能够对铁电材料的特性进行高精度的纳米级表征。雷竞技网页版通过大大提高测量的灵敏度和准确性，扩展了标准的压电响应力显微镜(PFM)。这种模式:

• 阐明了在获得相对较高灵敏度的同时，传统PFM模式测量的信号会受到静电伪影的影响。
• 提供铁电关键参数的高光谱图，揭示样品的XY非均质性及其与其他性质的相关性，以其他方式无法获得的细节水平。
• 能够量化铁电磁滞回线的关键参数，并在仪器，实验室和探头之间比较材料性能。

单独使用或与其他AFM操作模式结合使用，SS-PFM为材料微观结构/极化开关关系提供了新的见解。

消除工件

标准PFM允许以纳米级分辨率测量铁电行为，但测量的信号可能受到悬臂上的静电力以及铁电响应的影响。这可能会导致迟滞回线定量错误，甚至可能将有色材料误认为铁电材料。雷竞技网页版在使用亚共振PFM (Killgore,纳米尺度的进步、4、8、2022）.

SS-PFM模式提供:

• 场外和现场回路，分离读取和写入测量与SS-PFM脚本光谱。
• 通过获取不同读电压和不同写电压下的数据来检测静电伪影(Balke,纳米技术、27、42、2016）.
• 兼容谐振PFM以改善响应，或在ESBS与激光兼容亚谐振PFM以进行更多定量测量(Killgore,纳米尺度的进步、4、8、2022）.
• 磁滞回线相位明确、方向正确(电致伸缩系数表征符号)DCUBE-CR-PFM（Neumayer,应用物理杂志， 128,17, 2020）.

铁电参数

通过收集和分析一系列SS-PFM光谱，可以生成关键压电参数的图，以纳米级分辨率展示XY平面上铁电性能的变化。

SS-PFM交付:

• 利用磁滞回线对关键铁电参数进行高灵敏度和可重复性的点测量。
• 定量信息——通过对脚本数据的高光谱分析，通过更简单的成像模式无法获得。

• 铁电材料性质图，可以与其他性质图(压电图、化学图等)相关联。

避免接触模式以获得可重复的结果

标准PFM在接触模式下工作，不适合在扫描过程中由于AFM尖端在样品表面上拖动而容易损坏或位移的样品。较软的探头可以部分缓解这个问题，但在PFM测量中更容易产生静电伪影。

力量的独特的DCUBE-PFM模式， SS-PFM避免在表面上拖动尖端。这消除了有害的横向力，困扰传统的基于接触模式的方法。当与PeakForce攻和MIROView进行预扫描和导航，完全可以避免接触模式。

SS-PFM模式支持:

• 低冲击扫描精细样品，如聚合物，纤维和纳米颗粒。
• 在处理硬样品时，提高了针尖的使用寿命。
• 更一致的PFM图像，而不影响信号测量精度。

创新与先进的软件和分析

布鲁克最先进、易于访问的软件和分析工具为研究人员提供了所需的灵活性。

• 我们易于使用的脚本生成器可以从七个关键参数创建切换波形脚本。高级用户还可以用XML创建唯一的脚本。
• 基于python的开源分析代码使研究人员能够准确地看到分析是如何工作的，并开发出分析SS-PFM数据的创新方法。
• 对于开发自己的电子设备的研究人员来说，信号访问模块(SAM 6)允许硬件访问原始信号，还可以为具有大强制偏差的样品提供高电压。

无缝集成与新的NanoScope 6控制器

pfm型实验对背景和相声的影响特别敏感。与新型NanoScope 6控制器的集成减少了这些影响，通过优化的锁定放大器和信号路由提供最高性能的背景和串扰。

这使许多AFM工作模式受益，但它为pfm类型模式(如SS-PFM)提供了独特的优势，包括:

• 由于改进了信噪比，分析更简单。
• 清洁、准确的测量;即使是高频率的低电平信号。