NanoWizard NanoOptics

新的NanoWizard®NanoOptics头具有出色的物理和光学访问样品从顶部和底部，以及从前面和侧面，即使当头和冷凝器到位。此外，它还有一个用于光纤SNOM应用的集成端口。

由于spm尖端定位和扫描的稳定性和可重复性对于需要长时间收集单光子的应用至关重要，因此该系统已为此进行了优化。改进的5轴或6轴闭环控制和z区的最高扫描仪共振频率提供了以前在商用AFM中无法获得的扫描仪性能。这确保了在空气和液体中成像和力测量的最高数据质量。

新型Vortis™高级SPM控制器为噪声水平、数据采集速度和最大的通用性提供了前沿值。先进的电子设备和软件用于多种反馈控制，最高带宽和对所有信号的访问，以及与用户编写的脚本相结合的能力，都是成功实验的关键要素。AFM和光谱仪数据的同步是通过用户友好的软件界面实现的。

NanoWizard®AFM是为在液体中最佳使用而设计的，并配有蒸汽屏障，封装的压电和各种专用的液体电池。该系统也可用于空气或受控气体环境。

软件的灵活性和附件的范围使系统为任何用户定义的实验做好准备。新开发的光纤耦合检测模块用于敏感探测器，如apd和pmt，在杂散光抑制方面提供了出色的结果。

孔径光纤SNOM实验
NanoWizard®NanoOptics头和音叉模块中的集成光纤SNOM端口允许技术的轻松集成。

散射型SNOM实验
该新系统非常适合尖端增强应用，例如荧光纳米天线由纳米制造或化学改性尖端制成。作为悬臂式光学探针的替代方案，STM尖端可以与新的扫描隧道显微镜(STM)模块一起使用。

光场中的纳米操作
该系统非常适合研究染料和标记物、量子点/棒或超材料的光学表面特性，如淬火或等离子体元的产生，并结合形貌、纳米力学、电学和磁学特性。雷竞技网页版由于舞台和头部的对称设计以及最新的5轴或6轴配置闭环扫描仪技术，长期稳定性和再现性达到了最高水平。

尖端和样品扫描仪组合
NanoWizard®头(3个扫描轴)和TAO™样品扫描模块(2或3个扫描轴)上的倒置显微镜集成到拉曼光谱仪

AFM和拉曼激励/信号之间的光学串扰抑制
980nm激光源在AFM
AFM头部的阻挡和清洗过滤器

长时间的AFM稳定性
高性能闭环扫描，AFM头台对称设计
覆盖式流体单元，具有温度控制和流体交换功能，可与油或水浸泡物镜相结合，获得最高的稳定性

系统集成
AFM尖端与样品位置的同步，以及JPK软件中拉曼信号的记录
经过JPKs验证的算法，在高na物镜焦点中找到完美的尖端位置

灵活性
多种AFM/SPM操作模式
Vortis™高级控制器具有最高的速度和最低的噪声，大量的信号通道可与信号访问前面板访问
易于使用和功能齐全的JPK软件，为初学者和专家提供高级实验
拉曼反射器套件用于不透明样品上的TERS

AFM的补充技术，如epi-fluorescence，共聚焦激光扫描显微镜，TIRF, FRET, FCS, FLIM, FRAP, STORM, PALM, STED，旋转圆盘等，提供了关于特定特征的行为或位置的见解。

现在可以常规地将AFM成像和力测量与这些光学方法同时结合在同一个样品点上。

• 头部在2个版本可用
  UV透明版的顶视图样品照明与紫外光
  用于光纤SNOM应用的光纤端口版本
• 最高的稳定性和最低的漂移长期实验
• 多达6轴闭环扫描(3个针尖和3个样品)与TAO™模块
• 980nm激光源用于悬臂偏转检测，防止与其他波长的串扰雷竞技贴吧
• 特殊的过滤装置，用于堵塞和清洗内部
• 也有版本的2光子显微镜可用
• 兼容大多数市售倒置研究显微镜(蔡司Axiovert和Axio观察者线，尼康TE和Ti线，奥林巴斯IX线和徕卡DMI/ DMI线
• 与倒置显微镜、拉曼光谱仪、光子计数系统无缝集成
• 可选PI PIFOC®模块，独立垂直焦点定位
• 盖式样品夹适用于空气、惰性气体、液体和带电样品连接

• Flexible Vortis™高级SPM控制器，具有最大种类的信号通道和q控制
• 广泛的操作模式和配件，如音叉，STM，导电AFM，光纤SNOM，拉曼反射器套件和光纤耦合检测模块

标准操作模式

成像模式

• 易于使用和直观的QI™模式，具有精确的力控制
• 横向力显微镜(LFM)接触方式
• 带相位检测的交流模式

力的测量

• 静态和动态光谱学
• 高级兵力映射

可选模式

• 快速扫描选项高达100行/秒
• QI™先进的定量数据模式
  机械性能，如附着力，弹性，刚度，变形
  电导率和电荷分布映射
  零力接触点成像(CPI)
  雷竞技怎么下载结合位点定位的分子识别成像
• HyperDrive™模式在流体中实现最高分辨率成像
• 先进的交流模式，如FM和PM带q控制和有源增益控制
• 高谐波成像

• MicroRheology
• 开尔文探针显微镜和单片机
• MFM和EFM(参见QI™模式)
• 导电AFM(参见QI™模式)
• 扫描隧道显微镜
• 电光谱模式
• Piezo-Response显微镜
• 电化学与温度控制和光学显微镜
• 纳米光刻和纳米操作
• Nanoindentation
• 扫描热原子力显微镜
• JPK ExperimentPlanner™用于设计专用的测量工作流程
• JPK RampDesigner™为夹具和斜坡实验定制设计的力曲线段
• 用于远程实验控制的ExperimentControl™功能
• 环境控制方案
• 用于AFM和光学显微镜的组合DirectOverlay™
• CellHesion®，TAO™和HybridStage™模块提供额外的xy或z样品移动工作台

光学系统/配件，电化学解决方案，电气样品表征，环境控制选项，软件模块，温度控制，隔音和隔振解决方案等。布鲁克为您提供正确的配件来控制您的样品条件，并进行成功的实验。