NanoWizard NanoOptics

新NanoWizard®NanoOptics头配有优秀的物理和光学访问样本从顶部和底部以及前部和侧,即使头和冷凝器。此外,它有一个端口为纤维SNOM)应用程序集成。

因为稳定性和再现性SPM-tip定位和扫描至关重要的应用程序要求单个光子的集合很长一段时间,系统进行了优化。改善闭环控制在5或6轴和z扫描共振频率最高提供扫描仪性能之前在商业AFM。这确保数据质量最高在空气和液体成像和力的测量。

新Vortis™先进SPM控制器提供最前沿的噪音水平值,数据采集速度和最大的多功能性。先进的电子产品和软件为多个反馈控制,最高带宽和访问所有信号结合工作能力与用户编写的脚本都是实验成功的关键因素。AFM和光谱仪数据的同步是通过一个用户友好的软件接口。

的NanoWizard®AFM是专为最佳使用在液体和蒸汽屏障,封装压电和各种专用液体细胞。系统也可以使用空气或气体环境控制。

灵活的软件和配件的范围使系统准备好任何用户定义的实验。新开发的光纤耦合等敏感探测器检测模块adp和pmt的杂散光抑制提供杰出的结果。

孔径纤维SNOM实验
集成的纤维SNOM港口NanoWizard®NanoOptics头和音叉模块允许一站式服务的集成技术。

Scattering-type SNOM (sSNOM)实验
新系统很适合tip-enhanced应用,如荧光与nano-antennas由nanofabricated或化学修改的建议。替代基于悬臂的光学探针,STM技巧可以使用新的扫描隧道显微镜(STM)模块。

在光学领域的纳米操作
新系统是理想的研究染料的光学表面性质和标记,量子点/棒或超材料如淬火或等离子体生成结合地形、纳米机械、电气和磁性。雷竞技网页版由于对称的设计阶段,以及最新的闭环扫描技术在5 -或六轴配置中,长期稳定性和再现性达到最高的水平。

提示和示例扫描仪的组合
NanoWizard®(3轴扫描)和道™样本扫描模块(2或3扫描轴)上的倒置显微镜集成到一个拉曼光谱仪

抑制之间的光学相声AFM和拉曼激发/信号
在AFM波长980纳米的激光源
阻塞和清洗过滤器在AFM的头

AFM在长时间稳定
高性能闭环扫描仪和对称的AFM头和设计阶段
盖玻片的基础液细胞最高温度控制和液体换取稳定结合油或水浸的目标

系统集成
AFM提示和示例之间的同步位置,拉曼信号记录在JPK软件
JPKs证明算法找到完美的技巧在high-NA物镜的焦点位置

灵活性
各种各样的AFM / SPM操作模式
Vortis™先进控制器以最高速度和最低噪声与大量的信号通道访问访问前面板的信号
易于使用和功能齐全的JPK软件先进实验对初学者和专家
拉曼反射器设备参数在不透明的样品

AFM互补技术,如epi-fluorescence、共焦激光扫描显微镜,TIRF,烦恼,FCS,这部电影,收紧,风暴,棕榈,STED还是旋转的圆盘,等等,能让人了解到特定的行为或位置特性。

现在可以经常结合AFM与这些光学成像和力测量方法同时相同的样本点。

• 2版本
  紫外线透明版顶视图样本与紫外线光照
  光纤端口光纤SNOM)应用程序的版本
• 长期稳定和最高最低漂移实验
• 6轴闭环扫描(提示和样品3×3)与道™模块
• 波长980纳米的激光源悬臂偏转检测防止与其他波长的相声雷竞技贴吧
• 特殊的过滤集内阻塞和清洁
• 也为2-photon显微镜可用版本
• 兼容大多数商用反向研究显微镜(蔡司Axiovert Axio观察者行,尼康TE和Ti,奥林巴斯第九行和徕卡DMI / DMI线
• 无缝集成与倒置显微镜、拉曼光谱仪、光子计数系统
• 可选的πPIFOC®模块独立垂直聚焦定位
• Coverslip-based样品持有人对空气、惰性气体、液体和电气连接示例

• 灵活Vortis™先进SPM控制器最大的渠道和Q-control各种信号
• 广泛的操作模式及配件如音叉,STM,导电AFM、纤维SNOM),拉曼反射器设备和光纤耦合检测模块

标准的操作模式

成像模式

• 易于使用和直观的气™和精确的力控制模式
• 联系方式与横向力显微镜(lem)
• 交流模式和阶段检测

力的测量

• 静态和动态光谱法
• 先进的力映射

可选模式

• 快速扫描选项100行/秒
• 气™高级模式的定量数据
  机械性能如附着力、弹性刚度、变形
  电导率和电荷分布映射
  接触点成像(CPI)为零的力量
  雷竞技怎么下载分子识别成像结合位点的映射
• 光速™模式最高分辨率成像液
• 先进的交流方式如FM和PM Q-control &活跃的增益控制
• 高次谐波成像

• MicroRheology
• 开尔文探针显微镜和SCM
• MFM和EFM也气™模式)
• 导电AFM(参见气™模式)
• 扫描隧道显微镜
• 电子光谱模式
• Piezo-Response显微镜
• 电化学与温度控制和光学显微镜
• 纳米和纳米操作
• Nanoindentation
• 热AFM扫描
• JPK ExperimentPlanner™设计一个专用的测量工作流程
• JPK RampDesigner™定制设计力曲线段夹和斜坡实验
• ExperimentControl™特性为远程实验控制
• 环境控制选项
• DirectOverlay™AFM和光学显微镜
• 额外的xy或z样运动阶段可用CellHesion®,道™和HybridStage™模块

光学系统/配件、电化学方法、电子样本特征,环境控制选项,软件模块、温度控制、声学和振动隔离解决方案等等。力量为您提供正确的配件来控制你的样本条件和执行成功的实验。