NanoWizard NanoOptics

新的NanoWizard®纳米光学头具有优异的物理和光学访问的样品，从顶部和底部，以及从正面和侧面，即使当头部和冷凝器到位。此外，它还有一个用于光纤SNOM应用的集成端口。

由于spm尖端定位和扫描的稳定性和再现性对于需要长时间收集单光子的应用至关重要，因此该系统已针对其进行了优化。改进的5轴或6轴闭环控制和z轴的最高扫描仪共振频率提供了以前在商用AFM中不可用的扫描仪性能。这确保了在空气和液体中成像和力测量的最高数据质量。

新的Vortis™高级SPM控制器提供了噪音水平，数据采集速度和最大通用性的尖端值。用于多种反馈控制的先进电子和软件，最高带宽和对所有信号的访问，以及与用户编写脚本一起工作的能力，都是成功实验的关键要素。AFM和光谱仪数据的同步是通过一个用户友好的软件界面实现的。

NanoWizard®AFM专为液体中的最佳使用而设计，并配有蒸汽屏障，封装压电片和各种专用液体电池。该系统也可用于空气或受控气体环境。

软件的灵活性和配件的范围使系统为任何用户定义的实验做好准备。新开发的用于apd和pmt等敏感探测器的光纤耦合检测模块在杂散光抑制方面具有出色的效果。

孔径光纤SNOM实验
NanoWizard®纳米光学头和音叉模块中的集成光纤SNOM端口允许技术的无障碍集成。

散射型SNOM (sSNOM)实验
这种新系统非常适合尖端增强应用，例如由纳米制造或化学修饰的尖端制成的荧光纳米天线。作为基于悬臂的光学探针的替代品，STM尖端可以与新的扫描隧道显微镜(STM)模块一起使用。

光学领域的纳米操纵
新系统是研究染料和标记物、量子点/棒或超材料(如淬火或等离子体产生)的光学表面特性的理想选择，结合了地形、纳米机械、电气和磁性能。雷竞技网页版由于工作台和头部的对称设计以及最新的闭环扫描技术在5或6轴配置，长期稳定性和可重复性达到最高水平。

尖端和样品扫描仪组合
NanoWizard®头(3个扫描轴)和TAO™样品扫描模块(2或3个扫描轴)在倒置显微镜集成到拉曼光谱仪的顶部

原子力显微镜与拉曼激发/信号间光串扰的抑制
AFM中的980nm激光源
堵塞和清洁AFM机头的过滤器

AFM长时间稳定性
高性能闭环扫描仪和AFM头和工作台的对称设计
具有温度控制和流体交换的盖盖式流体电池，可与油或水浸泡物镜相结合，具有最高的稳定性

系统集成
AFM针尖与样品位置同步，并在JPK软件中记录拉曼信号
JPKs经过验证的算法，以找到完美的尖端位置，在高na物镜的焦点

灵活性
多种AFM/SPM操作模式
Vortis™先进的控制器，具有最高的速度和最低的噪音，具有大量的信号通道，可通过信号访问前面板访问
易于使用和功能齐全的JPK软件，用于初学者和专家的高级实验
不透明样品上的拉曼反射器套件

AFM的补充技术，如外延荧光、共聚焦激光扫描显微镜、TIRF、FRET、FCS、FLIM、FRAP、STORM、PALM、STED、旋转盘等，可以深入了解特定特征的行为或位置。

现在有可能将AFM成像和力测量与这些光学方法同时在同一样品点上进行常规结合。

• 头在2个版本可用
  紫外线透明版本的顶视图样品照明与紫外线
  用于光纤SNOM应用的光纤端口版本
• 最高的稳定性和最低的漂移长期实验
• 多达6轴闭环扫描(3个尖端和3个样品)与TAO™模块
• 用于悬臂偏转检测的980nm激光源可防止与其他波长的串扰雷竞技贴吧
• 内部专用过滤装置，用于堵塞和清洁
• 还有版本的2光子显微镜可用
• 兼容大多数市售倒置研究显微镜(蔡司Axiovert和Axio观察者线，尼康TE和Ti线，奥林巴斯IX线和徕卡DMI/ DMI线
• 无缝集成倒置显微镜，拉曼光谱仪，光子计数系统
• 可选PI PIFOC®模块，用于独立的垂直焦点定位
• 盖型样品支架，用于空气，惰性气体，液体和电样品连接

• 灵活的Vortis™先进的SPM控制器与最大种类的信号通道和q控制
• 广泛的操作模式和配件，如音叉，STM，导电AFM，光纤SNOM，拉曼反射器套件和光纤耦合检测模块

标准操作模式

成像模式

• 易于使用和直观的QI™模式，具有精确的力控制
• 侧向力显微镜(LFM)接触模式
• 带相位检测的交流模式

力的测量

• 静态与动态光谱学
• 高级力映射

可选模式

• 快速扫描选项，高达100行/秒
• QI™先进的定量数据模式
  机械性能，如附着力，弹性，刚度，变形
  电导率和电荷分布映射
  零力接触点成像(CPI)
  雷竞技怎么下载结合位点定位的分子识别成像
• HyperDrive™模式可实现流体中最高分辨率成像
• 先进的交流模式，如调频和PM与q控制和有源增益控制
• 高次成像

• MicroRheology
• 开尔文探针显微镜和单片机
• MFM和EFM(参见QI™模式)
• 导电AFM(参见QI™模式)
• 扫描隧道显微镜
• 电光谱模式
• Piezo-Response显微镜
• 电化学与温度控制和光学显微镜
• 纳米光刻与纳米操作
• Nanoindentation
• 扫描热原子力显微镜
• JPK ExperimentPlanner™用于设计专用的测量工作流程
• JPK RampDesigner™为夹具和斜坡实验定制设计的力曲线段
• ExperimentControl™功能，远程实验控制
• 环境控制方案
• DirectOverlay™结合AFM和光学显微镜
• 额外的xy或z样品移动阶段可与CellHesion®，TAO™和HybridStage™模块

光学系统/配件，电化学解决方案，电样品表征，环境控制选项，软件模块，温度控制，声学和振动隔离解决方案等等。布鲁克为您提供合适的配件来控制您的样品条件并进行成功的实验。