QC-RT
识别高价值基材的缺陷
x射线衍射成像(XRDI)检测系统
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QC-RT
布鲁克QC-RT是一种缺陷测量系统，使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术在反射模式下识别高价值衬底中的缺陷，如碲化镉和其他致密材料。雷竞技网页版由于x射线衍射的性质，与光学技术不同，晶圆片不需要蚀刻或抛光就能看到缺陷。
特長
CdTe基板上的倾斜和缺陷
CdTe和CdHgTe广泛用于红外探测，特别是夜视和薄膜太阳能电池。对于这些应用，生长晶体的质量变得很重要。QC-RT用于此类晶体的质量控制，并用于这些衬底加工的进一步发展。
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支持
我们能帮什么忙?
布鲁克与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发下一代技术，帮助客户选择合适的系统和配件。这种伙伴关系通过培训和延长的服务，在工具销售后很长一段时间内继续下去。
我们训练有素的支持工程师，应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训最大限度地提高您的生产力。