QC-RT
识别高价值基材的缺陷
x射线衍射成像(XRDI)检测系统
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QC-RT
布鲁克QC-RT是一种缺陷测量系统，使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术在反射模式下识别高值基片中的缺陷，如CdTe和其他致密材料。雷竞技网页版由于x射线衍射的性质，与光学技术不同，晶圆不需要蚀刻或抛光就能看到缺陷。
Cechy charakterystyczne
CdTe基衬底上的倾斜和缺陷
CdTe和CdHgTe广泛应用于红外探测，特别是夜视和薄膜太阳能电池。对于这些应用，生长晶体的质量变得很重要。QC-RT用于此类晶体的质量控制，并用于进一步开发这些基底的加工。
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支持
我们如何提供帮助?
Bruker与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发新一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系将通过培训和扩展服务继续下去，直到工具出售很久之后。
我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级，以及应用程序支持和培训，最大限度地提高您的生产力。