SEM picointter系列

Hysitron PI 89

坚固,精确和模块化的原位SEM纳米机械仪器

突出了

新一代原位纳米力学测试仪器

Hysitron PI 89 SEM picointter

Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter利用扫描电子显微镜(SEM, FIBSEM, PFIB)的先进成像功能,使得在同时成像的同时进行定量纳米力学测试成为可能。PI 89进一步推进了布鲁克市场领先的电容式传感器技术,实现了第一个商业化的原位SEM纳米力学平台。启用的测试技术包括纳米压痕、拉伸测试、支柱压缩、颗粒压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和机械性能映射。

无与伦比的
控制和性能
提供从<1 nm到150µm的固有位移驱动和位移控制,行业领先的负载范围从<1µN到3.5 N, 78 kHz的反馈速率和高达39 kHz的数据采集,以捕捉瞬态事件。雷竞技贴吧
创新
舞台技术
通过编码线性和旋转和倾斜阶段的两种配置实现精确的样品定位,用于可靠和可重复的测试,属性映射,原位FIB铣床,以及EBSD, EDS, BSE和TKD探测器的分析成像。
多才多艺的
模块化设计
支持全套的原位测试技术和选项,包括高温,nanoTribology,电气表征模块,nanoDynamic,推拉,直接拉张力,高应变率,扫描探针显微镜成像。

特性

特性

高级性能和功能

Hysitron PI 89的紧凑设计允许最大的级倾斜和最小的工作距离,以实现测试期间的最佳成像。PI 89为研究人员提供了比竞争系统更大的通用性和性能:

  • 重新设计的平台增加了通用性和易用性
  • 1纳米编码的线性级在自动测试模式下提供了更高的重复性,同时增加了行程范围
  • 改进的框架刚度(~0.9 x 106 N/m)在整个测试过程中提供了更大的稳定性
  • 旋转和倾斜(RT)级配置可实现成像、FIB铣削和访问探测器,如EDS、CBD、EBSD和TKD,用于分析数据和成像
新一代系统设计可提供两种旋转/倾斜阶段配置。系统中添加了一个简单的滑动平台,可以快速简单地调整样品相对于传感器的位置。

真正的位移控制

SEM PicoIndenter真位移控制试验中负载下降小。有限体积下bcc金属的限速变形机理。材料学报,2019年3月,第166卷,第687-701页

Hysitron PI 89采用Bruker专有的亚纳米灵敏度传感器和压电驱动柔性,用于本质位移控制和负载控制测试:

  • 在本质位移控制模式下,压电驱动器可以以预定的位移速率施加位移,传感器测量力
  • 在真负载控制模式下,传感器可以静电施加力,同时电容测量位移
  • 传感器独特的低电流设计最大限度地减少热漂移,并提供前所未有的负载和位移灵敏度

与扫描电镜成像和分析制图同步的原位力学数据

扫描电镜的视频捕捉实现了实时监测和机械数据与显微镜成像的直接关联。样品由南加州大学Steven Nutt教授提供。

Hysitron PI 89获得的原位力学数据与SEM成像同步并并排显示。这使您可以看到缺陷、机械应变以及热或电刺激对工程材料性能、寿命和耐久性的影响——从纳米到微米尺度。雷竞技网页版这种同步可以提供更大范围的分析:

  • SEM的旋转和倾斜阶段提供了EBSD和样品力学性能映射的组合
  • FIB铣削可以在纳米力学测试前后对样品进行,而不需要排气室

配件

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Hysitron PI 89的模块化设计支持全套创新的原位测试技术和两个旋转和倾斜工作台配置,用于高级成像和FIB铣削。

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