M6的地方
在高清晰度大面积micro-XRF扫描仪
移动元素分析
超快的映射
Punti salienti
2 x60
mm²
SDD大小
双硅漂移探测器选择最快的收购
80年x60
cm²
能扫描的表面
映射在一个更大的样本
100 - 500
µm
可调节光斑大小
五个步骤的光斑大小可以调整以匹配样本的结构
在大面积micro-XRF状态的艺术
Micro-XRF在大样本(也称为macro-XRF或MA-XRF)已成为一个决定性的方法分析绘画、地质样品、考古文物和工业组件。M6的地方驱使这些分析最高速度和准确性。移动轴距可调框架,M6的地方可以使用现场的运输样品到实验室。
- 测量垂直样品表面或水平
- 能扫描的面积多达800 x 600毫米²
- “动态”分析为最高速度的映射
- 可调节光斑大小匹配样本的结构
- XFlash®SDD技术高达2 x²探测器面积60毫米
- 可选的孔径管理系统(自动对盘及成交系统)获得关注的深度不均匀的表面
掉
你期望从M6的地方呢?
Micro-XRF研究Troodontid恐龙Jianianhualong Tengi揭示新生物和Taphonomical信号,金华李等人,原子光谱2021 42 (1)
- 得到空间解决几乎任何表面的元素分布的信息
- 在一个运行记录数据在大面积
- 结合高分辨率的光学图像与每像素在一个HyperMap全谱数据集
- 过程数据和提取对象光谱,线扫描和化学阶段从地图
- 量化光谱使用standardless基本参数(FP)方法
- 减少成本和时间,避免物流和确保安全的有价值的物品
Applicazioni
Specifiche
技术细节
| 100毫米/秒速度阶段 | 映射可以进行“动态”,停顿时间每像素到1毫秒 | ||
| 30毫米²或60毫米²sdd≤145 eV | M6的地方可以配备不同的力量XFlash®探测器,所有指定≤145 Mn KαeV | ||
| ±10°倾斜垂直测量模式 | 除了90°倾角之间的水平和垂直测量,平台可以倾斜的罚款措施适应倾斜的表面 |
