M6的地方
扫描仪micro-XRF de grande área em alta definição
Análise Elementar Móvel
Mapeamento Ultrarrapido
Destaques
2 x60
mm²
Tamanho做SDD
Opção de检测器de desvio de silício duplo para aquisição mais rápida
80年x60
cm²
Superficie escaneavel
麻婆花和青菜
100 - 500
µm
Tamanho do ponto ajustável
O tamanho do ponto pode ser ajustado em cinco etapas para通讯员à estrutura da amostra
Estado da Arte em Micro-XRF de Grande Área
O micro-XRF em grandes amostras (também chamado de macro-XRF ou MA-XRF) tornouse um método decisivo para a análise de pinturas, amostras geológicas, artefatos arqueológicos e componentes industriais。O M6 JETSTREAM conduz essas análises à mais alta velocidade e precisão。Com sua distância entre eixos móvel e estructura ajustável, o M6 JETSTREAM pode ser usado no local em vez de transporta amostra para o laboratório。
- Medição de amostras垂直ou superfícies水平
- Área escaneável até 800 × 600 mm²
- Análise“在飞行中”para maior velocidade de mapeamento
- Tamanho做ponto ajustável para组合com发情达爱情
- Tecnologia XFlash®SDD com área de detector de até 2 x 60 mm²
- 反常现象研究系统(AMS)可选问题深度分析superfícies不规则项
锻炼耐力
O que você pode esperar do M6 JETSTREAM?
李金华等，尖齿恐龙甲年华龙腾gi的显微xrf研究揭示了新的生物学和埋藏信号，原子光谱学2021 42(1)
- Obtenha informações espacialmente resolvidas清醒a distribuição elementar de quase qualquer superfície
- 注册为伟大的áreas我们的世界
- 结合imagens ópticas de alta resolução com espectro completo por pixel em um conjunto de dados HyperMap
- process dados e extraia espectros de objectos, varreduras de linha e fases químicas de mapas
- 定量光谱usando métodos de parâmetros基本原理(FP) sem padrão
- Reduza customs e tempo evitando a logística e garantindo a segurança de objects valiosos
Aplicacoes
Especificacoes
Detalhes Tecnicos
| 最高可达100mm /s级速度 | 映射可以“动态”进行，停留时间可降至每像素1毫秒 | ||
| 30mm²或60mm²SDDs≤145ev | M6 JETSTREAM可以配备不同的Bruker XFlash®探测器，所有指定在Mn Kα≤145 eV | ||
| ±10°倾斜垂直测量模式 | 除了水平和垂直测量之间的90°倾斜外，钻机还可以按精细步骤倾斜以适应斜面 |
