M6的地方
高精度大領域マesc escクロxrf分析装置
モバ@ @ル元素解析装置
超高速マッピング
ハ▪▪ラ▪▪ト
2 x60
mm²
SDDサescズ
最速の取得のためのデュアルシリコンドリフト検出器オプション
80年x60
cm²
スキャン可能な表面
1回の実行で大きなサンプルをマッピングする
100 - 500
嗯
調整可能なスポットサ@ @ズ
スポットサ▪▪▪ズは，サンプルの構造に合わせて5▪▪のステップで調整できます
大面積マaapl . exeクロ-xrfにおける最先端の芸術解釈
大面積マイクロ光谱仪法(マクロ光谱仪またはMA-XRFとも呼ばれる)は大型の絵画,地質サンプル,考古学的人工物および産業部品の分析のための決定的な方法となっています。M6射流は，これらの解析を最高速度および正確度に駆動します。M6的地方は、モバイルホイールベースと調整可能なフレームを使用して、サンプルをラボに輸送する代わりにオンサイトで使用できます。
- 直立サンプルまたは水平面の測定
- 最大800 × 600 mm²のスキャン可能な領域
- 最高のマッピング速度のための"オンザフラ▪▪▪▪"分析
- サンプルの構造に合わせて調整可能なスポットサ@ @ズ
- XFlash®最大2 x 60 mm²の検出器領域を備えたSDD技術
- 不均一な表面に焦点の深さを得るためにオプションの特許取得アパ，チャ，マネジメントシステム(AMS)
利点
M6喷气流から何が期待できますか?
李金华等，尖齿恐龙甲年华龙腾gi的显微xrf研究揭示了新的生物学和埋藏信号，原子光谱学2021 42(1)
- ほぼすべての表面の元素分布に関する空間的に解決された情報を取得する
- 1回の実行で大きな面積のレコ，ドデ，タ取得
- 1つのHyperMapデータセットで,ピクセルあたりのフルスペクトルと高解像度の光学画像を組み合わせ可能
- デ，タを処理し，マップからオブジェクトスペクトル，ラ，ンスキャン，化学相を抽出
- ファンダメンタルパラメ，タ(fp)法を使用したスペクトルの定量分析
- 物流を回避し，貴重な物のセキュリティを確保することで，コストと時間を削減
アプリケ，ション
仕様
技術的な詳細
| 最大100mm /sステジスピド | マッピングは，ピクセルあたり1ミリ秒までのドウェル時間で"オンザフラesc "で行うことができます | ||
| ≤145 eVを搭載した30mm²または60mm²のSDD | M6的地方は,Mn Kαで≤145 eVで指定された異なるブルカーXFlash (R)検出器を装備することができます | ||
| 垂直測定モ，ドで±10°傾斜 | 水平測定と垂直測定の間の90°の傾きに加えて,リグは傾斜面に合わせて微調整するために細かいステップで傾けることができます |
