三维光学表面光度仪

contourx - 200

灵活的台式表面纹理计量

Punti salienti

contourx - 200

contourx - 200光学表面光度仪提供了先进特性的完美结合,可定制的选项,和易用性为一流的快速、准确、可重复的非接触式三维表面计量。gage-capable,系统提供了不妥协2 d / 3 d高分辨率测量功能使用更大的视场5像素的数码相机和新的机动XY阶段。拥有无与伦比的z轴分辨率和精度,contourx - 200提供了所有的行业公认的优势力量的专有的白光干涉法(WLI)技术的局限性传统共焦显微镜和竞争标准光学分析器。

自动化
功能
使程序更快的测量和分析。
机动化的
XY阶段
提供了低噪声、高速操作定量计量。
Vibration-tolerant
紧凑的设计
提供测量稳定性和gage-capable可重复性。

Caratteristiche

特性

毋庸置疑,一流的计量

建立在超过四十年的专有" WLI创新,contourx - 200光学表面光度仪展品噪音低、高速、准确度和精确度结果定量计量要求。使用多个目标和集成特性识别,特征可以跟踪各种领域事实上的视图和垂直分辨率,为质量控制提供与比例无关的结果和过程监控应用程序非常不同的行业。contourx - 200是健壮的在所有表面情况下反射率从0.05%到100%。新硬件的特性包括一个创新的舞台设计对于较大的缝合功能和一个1200像素的摄像头和一个x1000测量阵列低噪音、大视场、高横向分辨率。

" WLI提供常数和终极目标的垂直分辨率。

广泛的应用分析能力

contourx - 200机动阶段。

利用强大的VisionXpress Vision64用户界面,contourx - 200提供了成千上万的定制分析生产力在实验室和工厂。力量的新环球扫描干涉法(USI)测量模式提供完全自动化,感知的表面纹理,优化信号处理,同时提供最准确的和现实的计算的表面形貌进行了分析。提供的大视场目标系统的新相机和灵活性提供新的机动XY阶段允许更大的灵活性和更高的吞吐量为范围广泛的样本和部分。硬件和软件相结合,具有简化访问顶级光学性能,完全outclassing可比计量功能。

Applicazioni

应用程序

表面积计量与特定于应用程序的解决方案

精密工程

保持高精密度的表面纹理和几何尺寸零件严格规范范围内。我们gage-capable测量系统提供有效的反馈和报告监控,跟踪和评估过程和评估GD&T的一致性。

微机电系统和传感器

进行高通量、高重复的腐蚀深度、膜厚度、阶梯高度,和表面粗糙度测量,以及先进的MEMS的关键尺寸测量和光学微机电系统。光学分析可以描述设备整个生产过程从晶圆到最终测试,甚至通过透明的包装。

骨科、眼科

获得精确的、可重复的测量植入材料和组件通过完整的产品生命周期。雷竞技网页版" WLI光学profiler支持研发、QA和QC分析,应用程序从透镜的表面参数的表征和注塑模具表面光洁度验证和磨损的医疗设备。

摩擦学

测量、分析和控制的影响摩擦,磨损、润滑和腐蚀材料/组件的性能和寿命。确定定量穿参数和执行快速的通过/失败检查广泛的光泽,光滑或粗糙的表面。

半导体

提高产量和降低成本两个前置和后端与自动化生产流程,非接触式、圆片规模计量系统。执行post-CMP模平面度检查;凹凸高度、共面和缺陷识别和分析;和测量组件结构的临界尺寸。

光学

更好地了解缺陷的根本原因,优化抛光和完成过程精确和可重复的sub-nm粗糙度测量。我们的非接触式测量系统启用符合日益严格的规范和ISO标准为样本,从小型非球面和自由的光学、光学组件和复杂的几何图形,衍射光栅和微透镜。

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