contourx - 200
灵活的台式表面纹理计量
Najważniejsze informacje
contourx - 200
contourx - 200光学表面光度仪提供了先进特性的完美结合,可定制的选项,和易用性为一流的快速、准确、可重复的非接触式三维表面计量。gage-capable,系统提供了不妥协2 d / 3 d高分辨率测量功能使用更大的视场5像素的数码相机和新的机动XY阶段。拥有无与伦比的z轴分辨率和精度,contourx - 200提供了所有的行业公认的优势力量的专有的白光干涉法(WLI)技术的局限性传统共焦显微镜和竞争标准光学分析器。
自动化
功能
使程序更快的测量和分析。
机动化的
XY阶段
提供了低噪声、高速操作定量计量。
Vibration-tolerant
紧凑的设计
提供测量稳定性和gage-capable可重复性。
Cechy charakterystyczne
毋庸置疑,一流的计量
建立在超过四十年的专有" WLI创新,contourx - 200光学表面光度仪展品噪音低、高速、准确度和精确度结果定量计量要求。使用多个目标和集成特性识别,特征可以跟踪各种领域事实上的视图和垂直分辨率,为质量控制提供与比例无关的结果和过程监控应用程序非常不同的行业。contourx - 200是健壮的在所有表面情况下反射率从0.05%到100%。新硬件的特性包括一个创新的舞台设计对于较大的缝合功能和一个1200像素的摄像头和一个x1000测量阵列低噪音、大视场、高横向分辨率。
" WLI提供常数和终极目标的垂直分辨率。
广泛的应用分析能力
contourx - 200机动阶段。
利用强大的VisionXpress Vision64用户界面,contourx - 200提供了成千上万的定制分析生产力在实验室和工厂。力量的新环球扫描干涉法(USI)测量模式提供完全自动化,感知的表面纹理,优化信号处理,同时提供最准确的和现实的计算的表面形貌进行了分析。提供的大视场目标系统的新相机和灵活性提供新的机动XY阶段允许更大的灵活性和更高的吞吐量为范围广泛的样本和部分。硬件和软件相结合,具有简化访问顶级光学性能,完全outclassing可比计量功能。
