太阳系

薄膜元素分析

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电子显微镜元素分析

雷竞技网页版太阳电池结构复杂多层不同材料,有时薄到几纳米Bruker高性能EDS检测器XFlash平面QUAD与独特样本检测几何法相容大片和电子透明多层样本分量分析高信号采集率和高EDS空间解析率可用SEM XFlash扁平QUAD实现

图层微XRF分析

多半导体设备如太阳能电池目前由多层组成调查这些分层系统最终产品Bruker微xRF求解法允许同时测量层厚度和组成

X光分解

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光电活性层内正确晶相形成是薄膜太阳能电池转换效率的关键。 X射线分片是一种极强非损分析技术,用于多晶片和粉末相识别量化

8分解并D8升级即Bruker实验室分片解析法综合最大火药分片性能和易用性能完全合宜控制薄膜太阳能电池质量的研究、过程开发与生产控制

例子描述Bragg-Brentano太阳电池XRD测量CIGS和Me相位可见

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雷竞技网页版低X射线生成材料的化学成分,如FIB/TEMshellas和Nanap粒子,用Bruker独有EDSFlatQUAD检测器用SEM纳米分辨率可靠测量

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图层宽度分析SEM微XRF

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