D8发现

D8 DISCOVER是旗舰型多用途x射线衍射仪，提供领先的技术组件。它是为在环境和非环境条件下从粉末，非晶和多晶材料到外延多层薄膜的全范围材料的结构表征而设计的。雷竞技网页版

应用程序:

• 物相鉴定与定量、结构测定与细化、微应变与晶粒尺寸分析;
  
• x射线反射、掠入射衍射、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、gi应力分析、晶体取向分析
• 残余应力分析，织构和极点图，微x射线衍射，广角x射线散射(WAXS)，
  
• 全散射分析:Bragg衍射、对分布函数、小角x射线散射(SAXS)

配备MONTEL光学器件的IµS微聚焦源提供小的高强度x射线束，非常适合小区域或样品的调查。

• 毫米大小的光束，高亮度和超低背景
  
• 绿色设计，低功耗，无水消耗，延长元器件寿命
  
• MONTEL光学优化光束形状和发散
• 与我们大量选择的组件，光学器件和检测器完全兼容。
  
  

EIGER2 R 250K和500K是为实验室x射线衍射带来同步加速器性能的2D探测器

• 先进的传感器设计，包括第二代革命性的EIGER:高达500.000像素，尺寸为75 x 75 mm²，允许微观分辨率的宏观覆盖。
  
• 其符合人体工程学的设计允许以最小的努力适应探测器的位置和方向，以满足应用要求。这包括在0°/90°方向之间的无工具切换和具有自动校准的连续可变检测器位置。
  
• 全景光学和配件，无遮挡的视野。
  
• 0D, 1D和2D操作模式，具有快照，步进，连续或高级扫描模式。
• 完全无缝集成到DIFFRAC.SUITE中。

x射线衍射(XRD)和反射在薄层结构样品的无损表征中起主导作用。D8 DISCOVER和DIFFRAC。套件software support simple execution of common XRD methods in thin film analysis:

• 掠入射衍射(GID)用于表面敏感的晶体相识别和结构性质的测定，包括晶体大小和应变。
  
• x射线反射法(XRR)用于提取多层样品中的厚度，材料密度和界面结构-从简单的衬底到高度复杂的超晶格结构。
  
• 高分辨率x射线衍射(HRXRD)用于分析外延生长样品的结构:层厚度，应变，弛豫，镶嵌性，混合晶体的成分分析。
  
• 应力和纹理(优先方向)分析

D8 DISCOVER是高通量筛选(HTS)和样品大面积制图的最终解决方案。UMC样品级提供了一系列的运动，使D8 DISCOVER在电动平移和重量能力方面都属于自己的一类:

• 孔板和沉积样品反射和透射的高通量筛选(HTS)
• 测绘样品的尺寸可达300毫米
• 安装和测绘样品，重量可达5公斤
• 自动化接口