原子力显微镜

NanoWizard V纳米科学

自动定量粗糙表面的纳米机械成像和扫描速度最快

Najważniejsze informacje

NanoWizard®V纳米科学

的NanoWizard®V结合了高时空分辨率和扫描面积大,灵活的实验设计,突出与先进的光学显微镜系统的集成。自动设置、校准和系统参数打开新的可能性为长期的再度调整,自动调节的实验系列。

自动化
完善性能,提高生产率
自动设置、工作流和校准打开新的可能性为长期,自我调节实验系列和复杂的实验例程。
大样本
快速扫描扫描面积大
创新的快速扫描功能在粗糙表面和样品从聚合物太阳能电池。
动力学
实时可视化
调查的动态过程,如结晶、增长、融化和域建筑在400行/秒。

Cechy charakterystyczne

发现了第五代NanoWizard纳米AFM

Nanowizard®V自动化中设定了新的基准,同时提供一系列新技术能力和一定程度的安慰首屈一指。

  • 最新一代挤满了小说的创新
  • 证明的成功通过一个安装基地近1000 JPK /力量NanoWizard afm在全球各地
  • 由专门的悬臂发展高分辨率成像,快速扫描,和定制的应用程序
  • 直观的V8软件环境
  • 无与伦比的易用性
  • 适合多用户成像设备

完善性能和提高生产率

NanoWizard V纳米科学是一个优秀的工具,独特的技术创新结合性能和用户的舒适。


为新的科学发现铺平了道路

  • 最低噪音扫描仪和检测系统确保高分辨率数据和无与伦比的性能
  • 高速扫描率高达400行/秒
  • 理想的实时动态的调查
  • 自动化来提高生产率和最大化吞吐量
  • 高分辨率纳米机械成像与PeakForce-QI™, PeakForce攻®,PeakForce QNM,
    和齐
  • 对AFM DirectOverlay结合先进的光学显微镜
  • 特性的最新ExperimentPlanner和ExperimentControl选项
  • 广泛的环境控制配件,电气测量等等

性能优越

  • 多功能成像从原子晶格大规模样本
  • 最大范围的扩展
  • 扩展光视场与瓷砖AFM功能
  • 优化存储参数和最喜欢的设置
  • 直观的用户操作
  • 标准化的批量分析例程生成统计相关的数据集
  • 完全自动化的悬臂和探测器对齐
  • 在严酷的环境下快速捕捉动态过程
  • 按照反应在多个时间尺度,从毫秒到秒,分钟
地形图像原子晶格云母的液体。图片拍摄于闭环TappingMode倒置显微镜的操作。扫描尺寸:10×10 nm,高度范围:220点
地形的形象六十碳烷(C60H122)沉积在高定向热解石墨(石墨)。这张照片拍摄于TappingMode环境条件下。几个单分子层的六十碳烷。雷竞技怎么下载六十碳烷分子每一层内形成明显的层状条纹。扫描大小:400×400 nm,高度范围:1.04海里

”的表现NanoWizard afm是例外。NanoWizard V,力量建立在这个与自动校准和快速成像甚至在大扫描大小、解决真实用户的问题。这个乐器的范围将扩大实验可能,让曾经困难的实验程序。”


Nic穆林博士
生物物理成像中心部门的高级实验物理学和天文学,英国谢菲尔德

综合纳米机械特性

力量不断努力改善afm的纳米机械特性功能,为复杂的科学努力提供简单的技术解决方案。

NanoWizard V是最理想的解决方案量化纳米机械特性和理解的重要作用在结构、形态、和分子相互作用。雷竞技怎么下载

NanoWizard V推动科学的边界,打开AFM技术更广泛的应用,使纳米机械特性更快,更容易,更容易为用户所有的科学领域。


无可匹敌的能力

  • 快速扫描和易用性结合地形和纳米机械成像
  • 使用microrheological测量特性的粘弹性性质
  • 接触共振的机械特性硬样本(> 10 GPa)
  • 直观而强大的RampDesigner软件
  • 高度敏感力的控制和tip-saving特性
  • 真的,实时监控力曲线
  • 机械映射结合电子样本描述在一个单一的运行

定量成像的新篇章

PeakForce-QIPeakForce攻和气模式的共生关系,定量纳米机械提供了独特的成像能力。它结合了与先进的力控制收购率最高,交付最高分辨率,不确定型图像。自动设置,操作,和校准使它简单的配置和运行一个实验,并获得高质量的图像和数据快速、轻松地,即使对于非专家。

强大的数据分析

  • 简单,可靠的批处理
  • 灵活的创建地形图像在不同的部队
  • 零力(接触点)成像图像栈从批处理输出的通道
PeakForce-QNM styrene-ethylene-butylene薄膜的形象——triblock苯乙烯共聚物(古陆G1652)准备在硅片上。顶部的地形显示和相应的杨氏模量如下所示。扫描大小:1µm×1µm。)高度范围:22纳米;b)模数范围:280 MPa
接触共振测量在一个分层的样本组成的铝、硅和铬。扫描尺寸:12µm×12µm。)高度范围:121海里;b)模数范围:107 GPa
PeakForce QNM图像混合的聚苯乙烯(PS)和ethylene-octene共聚物。软ethylene-octene共聚物(~ 0.1 GPa)是嵌入在一个僵硬的矩阵的PS (~ 2 GPa)。扫描大小:4µm×4µm。)高度范围:80海里;b)粘连范围:10神经网络;c)变形范围:50 nm;d)模数范围:3 GPa

最好的自动化和直观的操作

NanoWizard V是为了满足科学家在研究和行业特定需求的今天。创新的硬件和软件解决方案导致增加吞吐量,自动测量手续,和批处理例程,使科学家专注于重要的事情——他们的研究。


最高水平的自动化

  • 自动校准的激光探测系统
  • 自动悬臂校准
  • 自动多区成像使用HybridStage或机动阶段
  • 直观的用ExperimentPlanner脚本的自动化实验
  • ExperimentControl远程监控的实验

直观的操作

  • Workflow-based软件基本易用性特性
  • 用户管理、多用户的理想设备
  • 集成软件帮助
  • 单击光学图像校准
  • 激光探测系统的集成相机对齐
  • 综合数据处理例程
  • 方便保存参数和最喜欢的设置

软件设置最新workflow-based SPM控制软件V8描绘DirectOverlay 2, DirectTiling和断层特征。
光学图像的叠加一个倒置光学显微镜AFM扫描的薄膜结晶聚(3-hydroxy-butyrate-co-3-hydroxyvaler-ate) (PHB / V)。背景光学图像是由瓷砖一系列更小的图片(图片4×4)使用一个机动阶段。交叉偏振器被用来可视化的球状的结构样品。AFM图像在环境条件下TappingMode收购阶段。perodic,环状结构的AFM扫描结果的连续晶体薄片的扭曲,形成所谓的带状球晶。扫描大小从上到下:50µm×50µmµm 60×60µm 45µm×45µm, 70µmµm×70。

无与伦比的灵活性设计

著名的tip-scanner技术和模块化的设计NanoWizard V纳米科学AFM系统可以无缝集成先进的光学技术。

广泛的先进模式和配件最灵活的AFM在当今市场上,使通用的实验设置和环境控制。


全方位的附件及配件

  • 广泛的温度控制配件(-120°C到+ 300°C)
  • 扫描热显微镜(SThM)
  • 磁力显微镜(MFM)
  • 纳米操作
  • 摩擦力显微镜
  • 多通道成像
  • 拉伸阶段
  • 各种液体细胞
  • 见附件手册更多的选择

高分辨率电特性

  • 导电AFM (CAFM)
  • 开尔文探针力显微镜(KPFM)
  • 静电力显微镜(EFM)
  • 压电式力显微镜(PFM)
  • 扫描隧道显微镜(STM)
  • 扫描电化学显微镜(SECM)


对于复杂的实验,从聚合物太阳能电池

  • 优化环境控制选项
  • 光可访问性的样本,例如,定义照明
  • 980纳米激光检测选项
  • 各种模式长期无人值守实验

磁力显微镜(MFM)与垂直磁化曲流域的多层Co-Pt硅薄膜。样品由诉Neu博士(德国德累斯顿的莱布尼兹IFW)。扫描大小:1µm×1µm。)高度范围:4海里;b)阶段范围:14.4度。
开尔文探针力显微镜(KPFM dual-pass) DRAM(酷睿2四核处理器,英特尔)。扫描大小:85μmμm×85。)高度范围:68海里;b) CPD范围:468 mV。
导电AFM (CAFM)氧化锌沉积在niobium-doped钛酸锶(偏置电压-4.0 V)。样品由f . Bobba教授萨勒诺大学、意大利。扫描大小:850×850 nm。)高度范围:16 nm;b)电流范围:42 nA。
Piezoresponse力显微镜(PFM)铁电聚合物P (VDF-TrFE)在金电极上硅。电压脉冲序列(20 V)生成从位图模板写标志的压电极化样本。垂直PFM-phase图像模式后显示。扫描尺寸:45µm×10µm阶段范围:170度。
SECM扫描铂电极的玻璃在力映射模式。垂直截面的地形图像覆盖SECM当前记录的距离依赖(提示潜在的-0.3 V,电极电位0 V, 10毫米[俄文(NH3) 6] 3 + 0.1氯化钾)。的预期行为redox-cycling(电极)和阻塞(玻璃)显然是观察。扫描尺寸:15μm×10μm电流范围:200 pA。

大样本的快速扫描的新基准

NanoWizard V纳米科学平台提供快速扫描扫描面积大。完整的扫描范围在所有三个轴仍然可用,提供无与伦比的扫描速度和简单样本之间切换功能,没有搬迁的样本或减少成像速度。

快速扫描选项适合动态过程的调查,提供所需的速度和准确度研究现象,如结晶、增长、融化,和域建筑,在真正的时间。


创新的快速自动AFM扫描功能

  • 提高生产力和最大化吞吐量为可靠的统计数据
  • 快z-piezo高谐振频率最快提供反馈
  • 基于自适应智能扫描程序使扫描率高达400行/秒
  • NestedScanner技术提供快速扫描波形z-range高达16.5µm样品
  • 主动平衡允许快速扫描大扫描区域

高分辨率电特性

  • 导电AFM (CAFM)
  • 开尔文探针力显微镜(KPFM)
  • 静电力显微镜(EFM)
  • 压电式力显微镜(PFM)
  • 扫描隧道显微镜(STM)
  • 扫描电化学显微镜(SECM)


稳定和最高数据精度满足易用性

  • 拥有先进的闭环控制的快速扫描
  • 快z-piezo配备电容传感器数据精度最高
  • 准确由于最新的反馈力控制技术
  • DirectDrive功能增加悬臂激发稳定
  • 批处理和先进的数据分析程序
  • 电影创作者

代表一系列阶段拍摄的图像在TappingMode薄膜的聚(3-hydroxybutyrate-co-3-hydroxyvalerate) (PHB / V)。测量前,上面的样本加热到熔化温度,然后冷却到低于熔化温度立即在图像采集。这几张照片显示了一个增长的结晶的PHB / V通过扫描区域。每一个显示图片的时差是18秒。实际的数据采集是运行在2.5秒每帧。扫描大小:600×600 nm像素大小:512 px×512 px扫描速度:200行/秒范围阶段:20度。

Aplikacje

应用程序

NanoWizard纳米科学数据画廊

力量的BioAFMs允许生命科学和生物物理学研究人员进一步调查领域的细胞力学和附着力,力学生物学、信息和细胞表面的相互作用,细胞动力学,细胞形态。我们收集了一个画廊的图片展示的应用程序。

Specyfikacje

规范

操作模式

标准的操作模式

  • 现在PeakForce-QI包括PeakForce攻、气和PeakForce QNM
  • 包括快速PeakForce攻和气嵌套的扫描仪技术
  • 联系方式与横向力显微镜(lem)
  • 开发模式与PhaseImaging™™
  • ExperimentPlanner设计一个特定的测量工作流程
  • 静态和动态力光谱学
  • 先进的力映射

可选模式

  • 先进的光谱模式等各种力夹模式或坡道的设计
  • 快速扫描选项线率高达200赫兹
  • 气高级模式的定量数据,适合软样品
  • ScanAsyst自动增益和定位点调整PeakForce攻和PeakForce-QI
  • 先进的交流方式如FM和PM Q-control &活跃的增益控制
  • Microrheology在CellMech包
  • 开尔文探针显微镜
  • MFM和EFM
  • 导电AFM
  • 扫描隧道显微镜
  • 电子光谱模式
  • Piezoresponse显微镜高电压
  • 电化学和扫描电化学温度控制和光学显微镜
  • 纳米和纳米操作
  • NanoIndentation
  • 热AFM扫描
  • FluidFM®解决方案Cytosurge
  • ExperimentControl特性为远程实验控制
  • DirectOverlay 2 AFM和光学显微镜相结合
  • 提供额外的XY或Z样运动阶段CellHesion®、道和HybridStage模块

Akcesoria

配件

在市场上广泛的配件

光学系统/配件、电化学方法、电子样本特征,环境控制选项,软件模块、温度控制、声学和振动隔离解决方案等等。力量为您提供正确的配件来控制你的样本条件和执行成功的实验。

Webinary

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