QUANTAX Micro-XRF
Hochempfindliche Elementanalyse麻省理工学院最小Probenvorbereitung
Hochgeschwindigkeits-Elementverteilungsmessungen——欧什uber große Flachen
Schichtdickenanalyse
突出了
10 ppm
Nachweisgrenze
毛皮Detektion冯Spurenelementen军队hoheres信号祖茂堂Untergrund的区别
4毫米/秒
Fahrgeschwindigkeit
死optionale快速阶段ermoglicht schnelle Elementverteilungsanalysen uber große Flachen
1 nm - 40µm
Schichtdickenbereich
邓恩层ab 1 nm bis欣祖茂堂Mehrschichtstrukturen ~ 40µm Gesamtdicke拉森西奇bestimmen
Mikro-RFA als erganzende Analysetechnik苏珥klassischen EDS-Analyse im快速眼动
- 死Mikro-Rontgenfluoreszenz-Spektroskopie Micro-XRF, im德国欧什Mikro-RFA genannt)这是zerstorungsfreie Analysetechnik erganzend苏珥herkommlichen EDS-Analyse(能量色散光谱)是Rasterelektronenmikroskops(快速眼动)。Hiermit lasst西奇死Elementzusammensetzung静脉Vielzahl unbekannter Proben bestimmen。Es拉森西奇inhomogene Proben冯Zentimetergroße bis欣祖茂堂克雷能Partikelproben im Mikrometerbereich analysieren。
- 死hohere Nachweisgrenze军队静脉deutlich verbessertes Signal-zu-Untergrundverhaltnis它分析冯Spurenelementen (bis祖茂堂死去10 ppm毛皮verschiedene Elemente和Proben-Matrizen)。Zudem拉森西奇欧什hoherenergetische Linienserienbis 40 keVeffektiv anregen。Zusatzlich erreicht死Mikro-RFA一张deutlich hohere Informationstiefe, wodurch西奇Strukturen欧什魏特unterhalb der Probenoberflache auflosen拉森。
- 军队死Kombination静脉Mikrofokus-Rontgenrohre麻省理工学院静脉fokussierenden Rontgenoptik拉森西奇kleine Spotgroßen冯30µm贝hohem Impulsdurchsatz erzielen。
- Der optionale piezobasierte„快速阶段“Probentisch ermoglicht Hochgeschwindigkeits——Elementverteilungsmessungen„飞”麻省理工学院静脉maximalen Geschwindigkeit冯4 mm / s。Hierdurch拉森西奇Elementverteilungsanalysen毛皮Probengroßen bis 50 x 50 mm einem Durchlauf(奥得河mehreren Feldern欧什großer) realisieren。Dabei可以在毛皮质德国beide Quellen (Elektronen -和Photonenanregung)平行betrieben了。
- 死hohe Informationstiefe ermoglicht Charakterisierung冯静脉-和Mehrschichtsystemen死去ab 1 nm bis祖茂堂~ 40µmGesamtschichtdicke,麻省理工学院Elektronenanregung alleine不moglich。
Vorteile
Erweitern您您Analysemoglichkeiten是快速眼动的军队死集成der mikro-RFA和快速的阶段
- Doppelstrahlanregung——Nutzung der Starken jed einzelnen Anregung erweitert das analytische Spektrum和bietet neue Moglichkeiten毛皮Materialcharakterisierung死去。
- Der vorhandene EDS-Detektor萤石苏珥Erfassung Der jeweiligen Spektren奥得河欧什Der gleichzeitigen Erfassung冯Elektronen和Photonen angeregten Spektren毛皮质德国genutzt了。Hierdurch拉森西奇sowohl leichte Elemente als欧什Spurenelemente和hochenergetische (K) Linienserien gleichzeitig detektieren。
- Sowohl XTrace als欧什快速的阶段信德nahtlos在死精灵软件integriert。
- 死kombinierte EDS -和Mikro-RFA-Quantifizierung它一张umfassendere Probencharakterisierung。海尔的死Leichtelementinformationen der Elektronenstrahlmikroanalyse麻省理工学院Spurenempfindlichkeit der Mikro-RFA kombiniert。
- Gleichzeitiges Elektronenstrahl——和Mikro-RFA Elementmapping vereint死Vorteile beider世界里。所以拉森西奇死Verteilung•莱克特说和施沃Elemente gleichzeitig darstellen。
- Der erweiterte Spektralbereich ermoglicht neben M -和L-Linienserien也是死Darstellung hochenergetischer K-Linien。这信德oftmals deutlich wenig uberlappend和erleichtern死Quantifizierung komplexer Proben。
- Minimale Probenvorbereitung——死Mikro-RFA erfordert keine leitfahige Probenoberflache和凯文umfangreiches Polieren。
- Standardlose和standardbasierte Quantifizierung信德moglich。
