Bruker Nano Analytics介绍:

扫描电镜WDS测定轻元素

按需会话- 39分钟

利用x射线微量分析检测和定量轻元素

与其他元素相比,使用x射线微量分析检测和定量轻元素(原子序数< 10)具有挑战性。特别是,在激发轻元素时发射的x射线相对较少,这些低能光子很容易被吸收。因此,低计数率登记EDS传统的WDS降低了轻元素分析的精度,矩阵修正的不确定性降低了精度。

大型实心角平行光束光谱仪,如QUANTAX改进算法,其特点是对低x射线能量具有很高的灵敏度。QUANTAX WDS配备了几个衍射多层晶体,专为低能量区域的高性能而设计。

在本次网络研讨会中,我们将展示在矿物、玻璃、钢和二元化合物等天然和合成样品中轻元素测定的应用实例。网络研讨会还将包括Bruker软件套件中WDS功能的演示思捷环球

在环氧树脂中铍箔样品上获得的Be和C的x射线元素分布图

谁应该参加?

  • 来自工业界和学术界的研究人员使用微量分析技术。
  • 每个人都在处理对轻元素感兴趣的应用程序。

演讲者

迈克尔·阿布提斯博士

Bruker Nano Analytics的高级应用科学家

拉尔夫·特博格博士

布鲁克纳米分析公司高级科学家EDS