Bruker Nano Analytics提出:

扫描电镜WDS法测定轻元素

按需会话- 39分钟

用x射线微量分析检测和定量轻元素

与其他元素相比,使用x射线微量分析检测和定量轻元素(原子序数< 10)具有挑战性。特别是,在轻元素的激发过程中,相对较少的x射线被发射出来,这些低能光子很容易被吸收。因此,低计数率由EDS而传统WDS降低了轻元素分析的精度,且矩阵校正中的不确定性降低了精度。

大立体角平行光束光谱仪,如QUANTAX改进算法的特点是对低x射线能量有很高的灵敏度。QUANTAX WDS配备了几个衍射多层晶体,这些晶体设计用于低能区域的高性能。

在本次网络研讨会中,我们展示了在天然和合成样品(如矿物、玻璃、钢和二元化合物)中测定轻元素的应用实例。网络研讨会还将包括布鲁克软件套件中WDS功能的演示思捷环球

环氧树脂中铍箔样品中Be和C的x射线元素分布图

谁应该参加?

  • 来自工业界和学术界的研究人员使用微量分析技术。
  • 每个人都在处理对轻元素感兴趣的应用程序。

演讲者

Michael Abratis博士

高级应用科学家,布鲁克纳米分析

拉尔夫·特博格博士

高级科学家EDS,布鲁克纳米分析公司