显微镜下的文化遗产:利用扫描电子显微镜进行先进的元素分析

扫描电子显微镜的高空间分辨率分析是分析工作流程的基本组成部分，对于任何艺术作品和文化遗产的完整调查都是必不可少的。当研究从宏观尺度开始时，非侵入性技术，如微xrf测绘，允许对最小的样本进行扫描电镜分析，以手术精度最大化结果。此外，探测器技术的进步使得通过SEM进行元素表征的速度更快，灵敏度更高，最大限度地减少了对有价值材料的额外损害，同时提供了比以往更容易获得的灵活配置。雷竞技网页版

本次网络研讨会将展示使用扫描电镜对文化遗产样本进行微观分析的例子，以说明布鲁克的能力XFlash®探测器系列，包括XFlash^®FlatQUAD环形SDD EDS探测器QUANTAX紧凑用于小型SEM平台的EDS探测器XTrace in-SEM micro-XRF(QUANTAX Micro-XRF)。