FastScan职业
做marquants
Dimension FastScan Pro
Le Dimension FastScan Pro offre la vitesse et les性能métrologiques les加上élevées de tous les AFM industriels disponibles aujourd'hui。Le système permet des measure automatisées ou semi-automatisées tout en garantisant la plus grande facilité d'utilisation et Le plus faible coût par mesure pour Le contrôle qualité， l'assurance qualité et l'analyse des défaillances。
的特性
多价生产
Le système FastScan Pro利用une平台à accès ouvert, des porte-échantillons de grande taille ou multiainsi que de nombreuses函数de facilité d'utilisation afin de fournir une métrologie nanométrique灵活等性能pour les应用工业d'AQ, de CQ et de FA。Le système fournit des measures automatisées de de 2 à 12 pouces pour les semiconductors, Le stockage de données et les hd - led。Il présente une trajectoire XY accrue de l'échantillon pour un accès compleaux wafer de 200mm et aux échantillons multidans une zone de 200mm de diamètre, avec des mandrins optionnels pour les wafer de 300mm。Le système offre également Le choix entre un scanner FastScan 5-10x à haut débit pour la topgraphie, la rugosité et d'autres分析métrologiques, ou un scanner Icon avec une plage de balayage de 90µm pour des balayages plus larges et des performance de topgraphie de haute précision。
Un Logiciel d' automation Puissant
Le logiciel完整的AutoMET™offre une métrologie rapide et automatisée, un功能简单et une adaptabilité AFM倒une saisie方便des测量批评de qualité exigées丹斯Le域de la生产。Ce永久性有效措施automatisées sur plusieurs échantillons ou un seul grand échantillon destiné à la caractérisation à l'échelle nanométrique sur plusieurs sites。Il permet également la侦察图像光学和原子力显微镜，le centrage des pointes, la负责制图工作complète la tranche ou de la grille, et la précision du定位图像à quelques dizaines de nanomètres près。La rédaction餐厅complètes，简单餐厅avancés临时餐厅réel和餐厅。
Contrôle Précis德拉福斯
赛特技术独特的永久贴花的力量précise à n'进口的原子的权利échantillon。Ce contrôle précis de la sonde par rapport à l'échantillon permet d'utiliser la plus large gamme d'échantillons, allant des polymères mous, des films minces et des échantillons électriques jusqu'aux matériaux期间。Il permet également d'obtenir les forces d'imagerie les plus faibles et de prolonger la durée de vie de la pointe de la sonde au-delà de centines d' enregies et de balayages de données。
Alimenté par le Contrôleur AFM NanoScope
Avec des vitesses + élevées, un bruit +失败et une +大flexibilité du模式AFM, le contrôleur NanoScope 6 permet aux utilisateurs d'exploiter le plein potentiel de nos systèmes AFM à高级性能:维度等MultiMode。Ce contrôleur de dernière génération offre une正确，une précision et une polyvalence sans précédent pour les measures de surface à l'échelle nanométrique quelle que soit l'application。
纳米镜6 permet aux AFM de Bruker d'être unique en leur流派:
- Opérer avec + de模d'imagerie qu'il n'est可能avec les systèmes并发，y包含les模AFM唯一性等avancés qui nécessitent un contrôle等分析复合体
- Recueillir des données定量précises pour les measures de propriétés nanoélectriques et nanomécaniques dans toutes les应用
- 优化和个人的les paramètres de balayage pour répondre aux besoins de测量的les和渴望的丹斯勒领域的研究和工业。
应用程序
画廊Données尺寸FastScan Pro
