FastScan职业
Najważniejsze informacje
维FastScan职业
维FastScan Pro提供了最高metrology-level今天可用的任何工业AFM速度和性能。系统能够自动或半自动的测量,同时保证最大的易用性和最低成本测量质量控制、质量保证和失效分析。
Cechy charakterystyczne
生产的多功能性
FastScan Pro利用一个开放的平台,大型或multiple-sample持有者,和众多的易用性特性为工业提供灵活的高性能纳米计量QA、QC,足总应用程序。系统提供自动2英寸,12英寸晶片为半测量,数据存储和HB-LED。它增加了完全访问XY样本旅游200 mm晶圆或多个样品直径200毫米的地区,可选的轻叩300毫米晶圆。系统还提供了一个高通量之间的选择渲染FastScan地形扫描仪,粗糙度和其他计量分析,或一个图标扫描仪90µm扫描范围较大的扫描和高精度地形的性能。
强大的自动化软件
AutoMET™全部配方软件提供快速、自动计量,操作简单,容易捕获的AFM适应性critical-to-quality测量所需的生产。这个软件允许自动测量多个样品或一个大样本的多个位置的纳米特性。它还提供了光学和AFM图像模式识别,tip-centering,整片或网格映射的支持,并在几十个纳米image-placement精度。全面,却又简单,配方写高级用户提供实时和离线使用。
精确的Probe-Sample控制
独特的技术使定位力任何原子样品。这种精确probe-to-sample控制允许广泛的样本类型,从软聚合物、薄膜、和电子样本硬质材料。雷竞技网页版它还提供了可用的最低成像部队和探针尖端寿命长在数以百计的吸引和扫描数据。
由毫微秒示波器6 AFM控制器
以更高的速度,降低噪音,和更大的AFM模式灵活性,毫微秒示波器6控制器允许用户利用我们的潜能和多模AFM系统高性能的维度。这个最新一代控制器提供了前所未有的精度、精度和多功能性纳米表面测量在每个应用程序。
毫微秒示波器6独特使力量afm:
- 在成像模式比经营与竞争系统是可能的,包括独特的和先进的AFM模式,需要复杂的控制和分析;
- 收集准确、定量数据nanoelectrical在每个应用程序和纳米机械特性的测量;和
- 优化和定制扫描参数,以满足即使是最苛刻的研究和工业测量的要求。
Aplikacje
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