陨石标本的高分辨率x射线元素映射

陨石样本是稀有的，因此是珍贵的，它们最好是用非破坏性的方法来分析。当原始表面的微观研究是研究的重点时，严格排除基于sem的EDS分析的常见样品制备步骤，如切割，研磨，抛光和碳涂层。

在这种情况下，传统的EDS探测器面临着局限性，特别是在需要高空间分辨率的情况下。由于矿物陨石标本具有非导电性和地形性，因此电荷和阴影效应是主要的挑战。

为了克服这些限制，可以使用最先进的解决方案XFlash^®FlatQUAD。这种独特的环形EDS探测器直接放置在样品上方，类似于疯牛病探测器。它的特点是对低x射线产率具有极高的灵敏度，最大限度地减少任何阴影效应，因此是绘制粗糙，非涂层样品(如陨石)的完美工具。

我们研究了Mocs陨石，这是1882年2月2日在匈牙利落下的历史性陨石，由维也纳自然历史博物馆(NHM)提供。的应用XFlash^®FlatQUAD由于它能够在深空腔中绘制高分辨率的元素组成图，因此阐明了宇宙物质的演化。(Salge et al.， EMAS 2018 -地球科学中的微束分析，Bristol, UK, pp.16)