分析系统für elektronenmi克劳斯ope

QUANTAX FlatQUAD

Höchste Effizienz bei der Röntgendetektion

Unubertroffener Durchsatz

分析者von emfindlichen Proben

突出了

1
纳米
Ortsauflosung
Ortsauflösung im纳米贝里奇im REM
> 1, - 1
Großter Raumwinkel
Der Raumwinkel gibt die Effizienz an, welche Der erzeeugten Röntgenstrahlen geometric isch erfassbar信德。
2400年
kcps
Durchsatz
4-mal schneller als herkömmliche EDS-Detektoren

QUANTAX FlatQUAD - Wo herkömmliche sdd ihre Grenzen erreichen

QUANTAX FlatQUAD ist das eds - microkanalysesystem auf Basis des revolutionärenXFlash®FlatQUAD.diesel ringförmige vierkanale - silizium漂移探测器wd zwischen REM-Polschuh und Probe platziert, wodurch ein maximaler Raumwinkel bei EDS Applikationen erreicht wd。在联合组合麻省理工学院思捷环球, der Analysesoftware-Lösung, bietet QUANTAX FlatQUAD eine unübertroffene Mapping-Performance, selbst für die schwierigsten Proben。

  • 极端schnelles测绘mit nur moderaten Strahlströmen
  • 分析von strahlempfindlichen Materialien bei extreme niedrigen Strahlströmen (< 10 pA), z.B. biologische oder Halbleiterproben
  • 地形学研究,Abschattungen
  • 分析von Nanopartikeln和Nanostrukturen bei geringer Hochspannung和höchster Vergrößerung
  • 分析冯极端dünnen拉伦(z.B。TEM-Proben) und anderen Proben mit geringer Röntgenausbeute REM。

Vorteile

马克西米伦·希伊赫·艾菲齐恩茨

Das einzigartige ringförmige布鲁克设计XFlash®FlatQUAD-Detektor与塞纳河的定位,zwischen的快速波舒赫和探测führen祖einem unübertroffenen劳姆温克尔,在schnellere Messungen的指示niederschlägt。Zusammen mit der思捷环球软件套件ist der QUANTAX FlatQUAD das ideale Instrument zur Analyse z.B. empfindlicher Proben bei geringsten Strahlströmen oder Proben mit hoher地形。

DerXFlash®FlatQUADverwandelt Ihr REM oder FIB in ein analytisches Niederspannungs-STEM, um elektronentransparente Proben mit höchster räumlicher und spektroskopischer Auflösung zeitnaher und kostengünstiger zu analysieren。

嗯noch mehr Informationen aus Ihren eletronentransparenten proen zu gewinnen, kombinieren Sie den XFlash®FlatQUAD zusammen mit eFlash EBSD检测器mit擎天柱Detektorkopf。

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