콴탁스플랫쿼드
X선감지의최대효율
타의추종을불허하는처리량
민감한샘플분석
하이라이트
1
纳米
공간해상도
Sem의나노스케일분해능
> 1.1
老
가장높은솔리드각도
솔리드각도는생성된x선의기하학적수집효율을나타냅니다。
2400年
kcps
처리량
기존eds검출기보다4배빠릅니다。
Quantax플랫쿼드-기존의sdd가한계에도달하는곳
QUANTAX FlatQUAD는혁신적XFlash®FlatQUAD를기반으로eds마이크로분석시스템입니다。이환상4채널실리콘드리프트검출기는SEM폴피스와샘플사이에삽입되어EDS에서최대고체각도를구현합니다。QUANTAX FlatQUAD는思捷环球분석소프트웨어제품군과함께가장어려운샘플에서도타의추종을불허하는매핑성능을제공합니다。
- 중간빔전류만을사용하여매우빠른매핑
- 생물학적또는반도체샘플과같은매우낮은빔전류(< 10 pa)에서빔에민감한재료의분석
- 지형을가진견본의조사，그림자효과방지
- 낮은kV및가장높은배율에서나노입자및나노구조의분석
- Sem에서x선수율이낮은얇은샘플(예:TEM薄片)및기타시편의측정。
혜택
효율성극대화
브루커XFlash®FlatQUAD검출기의독특한환상설계와SEM폴피스와샘플사이의위치는타의추종을불허하는단색각도로이어져더빠른측정으로직접변환됩니다。QUANTAX FlatQUAD는思捷环球소프트웨어제품군과함께가장낮은빔전류또는지형이높은샘플과같은민감한샘플을분석하기에이상적인계측기를제공합니다。
또한XFlash®FlatQUAD는SEM또는FIB를저전압분석茎로전환하여가장높은공간및분광해상도로전자투명샘플을보다시기적이고비용효율적인방법으로분석할수있습니다。
전자명샘플에서더많은정보를얻으려면XFlash®FlatQUAD와OPTIMUS헤드로개조된eFlash EBSD검출기를결합합니다。
