电子显微镜分析仪

QUANTAX FlatQUAD

x射线检测的最高效率

无与伦比的高通量

分析敏感样品

亮点

1

纳米

空间分辨率

Sem中的纳米级分辨率

> 1.1

老

最高固体角

固体角代表探测器采集样品产生的x射线的几何收集效率

2400年

kcps

高通量

比传统的eds探测器快4倍

QUANTAX FlatQUAD -突破传统SDD的极限

QUANTAX FlatQUAD是基于革命性XFlash ^®FlatQUAD的EDS分析系统。这种环形四通道硅漂移探测器实验时位于sem极靴和样品之间，在eds测试中实现最大固体角。QUANTAX FlatQUAD与思捷环球分析软件套件相结合，即使是对于最困难的eds样品，可以提供无与伦比的面分析性能。

仅使用中等电流就可以进行极快的面分析表征
可以在极低电流(<10pA)下对束流敏感材料进行分析，例如生物或半导体样品
对具有粗糙表面的样品进行表征，有效避免阴影效应
低kV和高放大倍率下的纳米颗粒和纳米结构分析
Sem中测量薄样品(如Tem薄片)和其他x射线产量低的样品的最佳选择

联系我们 Tem的Quantax Eds

优势

最大限度地提高您的效率

力量XFlash^®FlatQUAD探测器独特的环形设计以及它在SEM极片和样品之间的位置,可带来无与伦比的固体角,直接对应为更快的测量速度。QUANTAX FlatQUAD与思捷环球软件套件一起，提供理想的仪器软硬件，用于分析最低电流才稳定的敏感样品或极为粗糙的样品。

XFlash^®FlatQUAD还可以将您的扫描电镜或FIB转换为低电压的干细胞,以更及时,更经济高效的方式实现最高的空间和光谱分辨率。

如果要从电子透明样品中获得更多信息，比如晶体学信息，可以请将XFlash^®FlatQUAD与布鲁克EBSD改装的TKD探测器结合使用。

Esprit软件擎天柱

应用

您的分析挑战是什么？

元素映射，无需从海胆中隐藏

生命科学样品的高级元素分布图

由于荷电效应和电子束损伤，生物样品的无损分析极具挑战性。

Mos2的sem图像和点谱

Mos2中峰值重叠的自动谱峰剥离及后续定量

二硫化钼(mos2)是工业上一种重要的材料，它是钼的主要矿石。

工程用钢中具有镍和铬分布的eds图

工程钢中铌元素分布图

铌(Nb)作为微合金工程中的添加剂被广泛研究。众所周知，在钢中加入铌可显著提高其硬度和耐腐蚀性，这使得铌钢在航空航天、汽车和结构工程中具有广泛应用。

Cigs太阳能电池的fib-tem拉梅拉

Cu(In, Ga)Se2太阳能电池的FIB/TEM薄片的EDS面分析

低X射线产量的材料(如FIB / TEM薄片和纳米颗粒)的化学成分表征可以使用布鲁克独特的EDS FlatQUAD探测器进行可靠地测量,该探测器在扫描电镜中具有纳米级的分辨率。

硅纳米粒子，红色碳，绿色硅

Si/C核/壳结构纳米颗粒的超高分辨元素面分析

使用布鲁克独特的EDS FlatQUAD探测器,使Si / C核/壳结构硅纳米颗粒的超高分辨元素面分析表征成为可能

网络研讨会

电子显微镜

网络研讨会

环形SDD XFlash®FlatQUAD非常适合分析地形复杂，三维和光束敏感的样品。

点播会议- 50分钟

快速，准确和精确的定量结果使用环形硅漂移探测器:布鲁克的XFlash FlatQUAD

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大面积高分辨率地质样品图

在本次网络研讨会中，我们将介绍与各种应用相关的地质样本的超地图分析，例如经济地质学，矿物学等。

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加入我们的网络研讨会，包括两个部分，涵盖扫描电子显微镜技术(EDS, EBSD, CL)在地质应用中的各个方面。

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